[发明专利]基于“pearson相关系数”的电表误差相关因素分析方法及系统在审

专利信息
申请号: 202210258388.X 申请日: 2022-03-16
公开(公告)号: CN114692061A 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 谷海彤;孙颖;赵颖;范杏元;郭斌;张文嘉;冯兴兴;许丽娟;赵烨;李慧;陈少梁;曹琴;曾令章;蔡妙妆;王妲 申请(专利权)人: 广东电网有限责任公司广州供电局
主分类号: G06F17/10 分类号: G06F17/10;G01R35/04
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 黄卫萍
地址: 510620 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 基于 pearson 相关系数 电表 误差 相关 因素 分析 方法 系统
【权利要求书】:

1.基于“pearson相关系数”的电表误差相关因素分析方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、获取待分析误差相关系数的厂商批次电表;

S2、根据“pearson相关系数”算法计算出每个电表分析因素与误差的相关系数;

S3、查看厂商批次电表,将厂商批次电表各分析因素的误差相关系数平均值堆叠,形成堆叠柱状图;

S4、筛选优质厂商批次电表。

2.根据权利要求1所述的基于“pearson相关系数”的电表误差相关因素分析方法,其特征在于,步骤S2中的分析因素包括:使用年限、负载、电压、三相不平衡、供电频率、安装倾斜度以及环境。

3.根据权利要求1所述的基于“pearson相关系数”的电表误差相关因素分析方法,其特征在于,步骤S2的具体过程如下:

S21、先选择一个分析因素,其他分析因素选择一个值作为一个基准值;

S22、“pearson相关系数”算法计算公式如下:

其中,ρX,Y为误差相关系数,X为分析因素值,Y为电表误差;

取分析因素值X1,用现场校验仪检测电表误差Y1,根据公式计算出误差相关系数P1;再计算出P2、P3……,最后计算出该分析因素的相关系数平均值。

4.根据权利要求3所述的基于“pearson相关系数”的电表误差相关因素分析方法,其特征在于,用现场校验仪实现电能表自校准的具体过程如下:

S2211、将内置RC振荡器的芯片固定在现场校验仪的测试腔内,通过现场校验仪的FT测试模块对芯片进行FT测试,利用现场校验仪提供的标准振荡频率与芯片内置的RC振荡器的本振频率做比对,将偏差比例值存入芯片内置EEPROM中;

S2212、设标准振荡频率为Fb,RC振荡器的本振频率为Fo,则RC振荡器的本振频率除以标准振荡频率得到振荡频率校准值,振荡频率校准值K=Fo/Fb;RC振荡器的本振频率的倒数为本振周期,本振周期To=1/Fo;振荡频率校准值乘以本振周期得到标准振荡周期,标准振荡周期Tb=K*To;

S2213、将经过FT测试后的内置RC振荡器的芯片安装到电表内部;

S2214、将安装测试后的芯片的电表放置于校验台上,用螺丝固定,连接好脉冲线;

S2215、校验台按照电表规格的要求提供标准额定功率,芯片内部的MCU模块将标准额定功率的脉冲间隔时间与当前电表功率的脉冲间隔时间做比对;

S2216、芯片内部的MCU模块将标准额定功率的脉冲间隔时间与当前电表功率的脉冲间隔时间的误差值乘以芯片内部EEPROM中保存的振荡频率偏差比例值,得到实际功率脉冲误差值;

S2217、芯片内部的MCU模块将芯片内部的实际功率值除以实际功率脉冲误差值,得到芯片计量的以当前功率为标准的额定功率;

S2218、芯片内部的MCU模块将芯片计量的以当前功率为标准的额定功率和标准额定功率做对比,再将功率误差比例值显示在误差器上;

S2219、查看电表校验台对应表位的误差器读数,经过自校准后,误差器读数将小于内部运算的最小校准精度误差值,则自校准验证成功。

5.根据权利要求3所述的基于“pearson相关系数”的电表误差相关因素分析方法,其特征在于,电表误差的检测及获取过程具体如下:

S2221、检测计量误差,将控制器与计量芯片连接,各信号检测模块分别与计量芯片连接,获取误差检测信号的输入值和输出值,并将误差检测信号的输入值和输出值传输至计量芯片;

S2222、获取误差检测信号的衰减状况,将计量芯片与控制器连接,根据误差检测信号的输入值和输出值获取误差检测信号的衰减状况,控制器根据误差检测信号的衰减状况获取电表的计量误差。

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