[发明专利]并线检测方法、并线检测光学装置及并线检测系统

权利要求书

1.一种并线检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

将内部具有全反射光线的透光件放置于多根切割线组成的线网的一侧；

移动所述透光件直至与所述线网相接触；

所述线网使所述透光件的表面发生受抑制的全反射现象，所述透光件的表面出现明暗变化；

缩小观察范围至所述透光件表面的亮度增加区域；

于所述亮度增加区域寻找所述线网的并线处。

2.根据权利要求1所述的并线检测方法，其特征在于，其中步骤所述线网使所述透光件的表面发生受抑制的全反射现象，所述透光件的表面出现明暗变化，包括如下步骤：

所述线网向所述透光件的表面施压；

所述线网的并线处由于表面张力更大使所述透光件的表面产生受压形变，打破透光件内的全反射现象，使透光件的表面出现明暗变化。

3.根据权利要求1所述的并线检测方法，其特征在于，其中步骤所述线网使所述透光件的表面发生受抑制的全反射现象，所述透光件的表面出现明暗变化，包括如下步骤：

所述透光件的部分表面从与空气接触变化为与线网接触，打破透光件内的全反射现象；

所述线网的并线处与所述透光件的表面接触面积更大，使透光件的表面出现明暗变化。

4.根据权利要求1所述的并线检测方法，其特征在于，其中步骤移动所述透光件直至与所述线网接触，包括：

移动所述透光件直至所述透光件的上表面与所述线网的下侧相接触。

5.根据权利要求1所述的并线检测方法，其特征在于，其中步骤缩小观察范围至所述透光件表面的亮度增加区域，包括如下步骤：

使用相机拍摄所述透光件的表面；

所述相机将所拍摄的照片传送至计算机并显示。

6.根据权利要求5所述的并线检测方法，其特征在于，其中步骤所述相机将所拍摄的照片传送至计算机并显示，包括如下步骤：

使用计算机对所述照片进行图片处理。

7.根据权利要求6所述的并线检测方法，其特征在于，所述图片处理包括调节图片灰度。

8.一种并线检测光学装置，其特征在于，采用如权利要求1-7任一项所述的并线检测方法进行检测，所述并线检测光学装置包括：透光件以及发光元件，所述透光件的外周围设有容置空间，所述发光元件设于所述容置空间中并朝向所述透光件内照射，所述发光元件发出的光线在所述透光件的内部发生全发射现象。

9.根据权利要求8所述的并线检测光学装置，其特征在于，所述并线检测光学装置还包括遮光件，所述容置空间设于所述遮光件与所述透光件之间，所述发光元件设于所述透光件的四周，所述透光件朝向所述发光元件的侧面为入射面，所述遮光件罩设于所述发光元件的外周，使所述发光元件发出的光线从所述入射面射入所述透光件内。

10.一种并线检测系统，其特征在于，包括相机、计算机及如权利要求8-9任一项所述的并线检测光学装置，所述相机与所述计算机电性连接，所述相机用于拍摄所述并线检测光学装置的表面，所述计算机用于对所述相机拍摄出的图片进行处理。