[发明专利]一种检测系统及检测方法

权利要求书

1.一种检测系统，其特征在于，所述检测系统包括电子设备、热激励源、红外反射镜以及红外热成像设备，所述红外反射镜位于待检测对象的非视域侧且镜面朝向所述待检测对象；

所述电子设备，用于控制所述热激励源在第一时长内持续进行热激励；

所述热激励源，用于将所述热激励入射至所述红外反射镜上；

所述红外反射镜，用于将所述热激励反射至所述待检测对象的目标检测部位上，以对所述目标检测部位进行热激励，所述目标检测部位是所述待检测对象的非视域侧的检测部位；

所述电子设备，还用于在所述第一时长后控制所述红外热成像设备采集所述目标检测部位在冷却过程中经所述红外反射镜反射回的热响应信息，所述热响应信息用于确定所述目标检测部位的受损情况。

2.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述红外反射镜的宽度为所述待检测对象的宽度的N倍，以及所述红外反射镜的高度为所述待检测对象的高度的K倍，所述N大于或等于5，所述K大于或等于1.2。

3.如权利要求2所述的检测系统，其特征在于，所述红外反射镜与所述待检测对象之间的距离为所述待检测对象的宽度的一倍大小，所述红外热成像设备与所述待检测对象的虚像之间的连线与所述镜面成45度夹角，且所述红外热成像设备的镜头正对着所述虚像的位置。

4.如权利要求1-3中任一项所述的检测系统，其特征在于，所述热激励源，用于将所述热激励入射至所述红外反射镜上，包括：

所述热激励源，用于向所述待检测对象的虚像位置进行热激励，所述热激励入射至所述红外反射镜上，所述所述虚像位置是指所述待检测对象在所述红外反射镜中的虚像的位置。

5.如权利要求1-3中任一项所述的检测系统，其特征在于，所述热激励源的数量为2个，两个热激励源分别位于所述红外热成像设备的两侧，且对所述红外热成像设备的视场不构成遮挡。

6.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述电子设备，还用于在所述第一时长后控制所述红外热成像设备采集所述目标检测部位在冷却过程中经所述红外反射镜反射回的热响应信息，包括：

所述电子设备，还用于在所述第一时长后，再经过第二时长，控制所述所述红外热成像设备开始采集所述目标检测部位在冷却过程中经所述红外反射镜反射回的热响应信息。

7.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述电子设备，还用于：

获取多个红外图像，多个红外图像中的每个红外图像是由红外热成像设备基于所述热响应信息生成的；

基于所述多个红外图像，通过主成分分析PCA算法确定目标特征图；

根据所述目标特征图，确定所述目标检测部位的受损情况。

8.一种检测方法，其特征在于，应用于检测系统，所述检测系统包括电子设备、热激励源、红外反射镜以及红外热成像设备，所述红外反射镜位于待检测对象的非视域侧且镜面朝向所述待检测对象；所述方法包括：

所述电子设备控制所述热激励源在第一时长内持续进行热激励；

所述热激励源将所述热激励入射至所述红外反射镜上；

所述红外反射镜将所述热激励反射至所述待检测对象的目标检测部位上，以对所述目标检测部位进行热激励，所述目标检测部位是所述待检测对象的非视域侧的检测部位；

所述电子设备在所述第一时长后控制所述红外热成像设备采集所述目标检测部位在冷却过程中经所述红外反射镜反射回的热响应信息，所述热响应信息用于确定所述目标检测部位的受损情况。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述红外反射镜的宽度为所述待检测对象的宽度的N倍，以及所述红外反射镜的高度为所述待检测对象的高度的K倍，所述N大于或等于5，所述K大于或等于1.2。

10.如权利要求8或9所述的方法，其特征在于，所述热激励源将所述热激励入射至所述红外反射镜上，包括：

所述热激励源向所述待检测对象的虚像位置进行热激励，所述热激励入射至所述红外反射镜上，所述所述虚像位置是指所述待检测对象在所述红外反射镜中的虚像的位置。