[发明专利]一种检测系统及检测方法

说明书

本申请公开了一种检测系统及检测方法，属于智能监测技术领域。包括：电子设备控制热激励源在第一时长内持续进行热激励。热激励源将热激励入射至红外反射镜上。红外反射镜将热激励反射至待检测对象的非视域侧的目标检测部位上，以对目标检测部位进行热激励。电子设备在第一时长后控制红外热成像设备采集目标检测部位在冷却过程中经红外反射镜反射回的热响应信息，热响应信息用于确定目标检测部位的受损情况。本申请通过红外反射镜，间接地对待检测对象的目标检测部位进行热激励，之后，通过红外热成像设备采集目标检测部位在冷却过程中经红外反射镜反射回的热响应信息，从而达到对目标检测部位进行检测的目的。

技术领域

本申请涉及智能监测技术领域，特别涉及一种检测系统及检测方法。

背景技术

在日常生活中，通常会有对一些体积较大且无法移动的对象进行内部缺陷检测的需求。譬如在电力领域中，为了避免安全事故的发生，一般会在电力设备的外层设置绝缘体，而在绝缘体的寿命周期内，由于受到制造过程中的固有缺陷以及环境因素的影响，容易发生内部损伤的现象，如此可能使得绝缘失效，从而容易引发安全事故。因此，需要对绝缘体的内部的受损情况进行检测，主动式红外热成像是应对这种情形的新型方法。

而在一些场景中，由于该类待检测对象所在的检测空间严重不足，所以可能导致无法对待检测对象的非视域侧的部位进行检测，从而无法确定该部位的缺陷信息，进而使得检测结果不够全面。

发明内容

本申请实施例提供了一种检测系统及检测方法，可以解决相关技术中无法确定待检测对象的非视域侧的部位的缺陷信息的问题。所述技术方案如下：

第一方面，提供了一种检测系统，所述检测系统包括电子设备、热激励源、红外反射镜以及红外热成像设备，所述红外反射镜位于待检测对象的非视域侧且镜面朝向所述待检测对象；

所述电子设备，用于控制所述热激励源在第一时长内持续进行热激励；

所述热激励源，用于将所述热激励入射至所述红外反射镜上；

所述红外反射镜，用于将所述热激励反射至所述待检测对象的目标检测部位上，以对所述目标检测部位进行热激励，所述目标检测部位是所述待检测对象的非视域侧的检测部位；

所述电子设备，还用于在所述第一时长后控制所述红外热成像设备采集所述目标检测部位在冷却过程中经所述红外反射镜反射回的热响应信息，所述热响应信息用于确定所述目标检测部位的受损情况。

作为本申请的一个示例，所述红外反射镜的宽度为所述待检测对象的宽度的N倍，以及所述红外反射镜的高度为所述待检测对象的高度的K倍，所述N大于或等于5，所述K大于或等于1.2。

作为本申请的一个示例，所述红外反射镜与所述待检测对象之间的距离为所述待检测对象的宽度的一倍大小，所述红外热成像设备与所述待检测对象的虚像之间的连线与所述镜面成45度夹角，且所述红外热成像设备的镜头正对着所述虚像的位置。

作为本申请的一个示例，所述热激励源，用于将所述热激励入射至所述红外反射镜上，包括：

所述热激励源，用于向所述待检测对象的虚像位置进行热激励，所述热激励入射至所述红外反射镜上，所述所述虚像位置是指所述待检测对象在所述红外反射镜中的虚像的位置。

作为本申请的一个示例，所述热激励源的数量为2个，两个热激励源分别位于所述红外热成像设备的两侧，且对所述红外热成像设备的视场不构成遮挡。

作为本申请的一个示例，所述电子设备，还用于在所述第一时长后控制所述红外热成像设备采集所述目标检测部位在冷却过程中经所述红外反射镜反射回的热响应信息，包括：

所述电子设备，还用于在所述第一时长后，再经过第二时长，控制所述所述红外热成像设备开始采集所述目标检测部位在冷却过程中经所述红外反射镜反射回的热响应信息。