[发明专利]一种检测机构及检测方法有效
申请号: | 202210291989.0 | 申请日: | 2022-03-23 |
公开(公告)号: | CN114608509B | 公开(公告)日: | 2023-01-10 |
发明(设计)人: | 陆俊光;李巧;廖广毅;田帅;江山 | 申请(专利权)人: | 东莞市宇瞳光学科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 季承 |
地址: | 523000 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 机构 方法 | ||
1.一种检测方法,其特征在于,采用检测机构实施,所述检测机构包括:
承靠台(1),其中部沿轴向贯穿开设有通孔,所述通孔的内壁沿轴向间隔设置有内螺纹(11)和台阶(12),隔圈(100)和镜片(200)位于所述内螺纹(11)与所述台阶(12)之间,所述台阶(12)用于抵接并限定所述隔圈(100)沿轴向的移动,所述镜片(200)抵接于所述隔圈(100)背离所述台阶(12)的一侧;
压圈(2),设置于所述通孔具有所述内螺纹(11)的位置上,其外周壁设置有外螺纹,所述压圈(2)与所述承靠台(1)螺纹连接,所述压圈(2)用于限定所述镜片(200)沿轴向的移动;
测量定位件(3),位于所述通孔内,且所述测量定位件(3)抵接于所述隔圈(100)背离所述镜片(200)的一侧,所述测量定位件(3)的中部沿轴向贯穿开设有测量孔(31),所述测量孔(31)与所述通孔同轴设置;
高度计(4),所述高度计(4)的探针头能够穿过所述测量孔(31)以抵接所述镜片(200);
所述检测方法包括以下步骤:
S100、将所述承靠台(1)沿轴向竖放,并从上至下依次将所述隔圈(100)和所述镜片(200)放入所述通孔内,采用压力装置对所述镜片(200)进行打压;
S200、将所述压圈(2)从上至下螺旋转入所述通孔中,直至所述压圈(2)与所述镜片(200)紧密抵接;
S300、将所述承靠台(1)沿轴向倒放,并采用所述高度计(4)对所述隔圈(100)的上表面以及所述镜片(200)的最高点进行检测,所述高度计(4)获取的绝对值即为所述镜片(200)与所述隔圈(100)的空气间隔值;
所述步骤S300具体为:使所述高度计(4)的探针头抵接于所述隔圈(100)的用于抵接所述台阶(12)的上表面,并对所述高度计(4)的探针头进行归零,再将所述高度计(4)取走以及将所述测量定位件(3)从上至下放入所述通孔中,使所述测量孔(31)正对所述镜片(200)的最高点,最后将所述高度计(4)的探针头穿过所述测量孔(31)并抵接所述镜片(200),所述高度计(4)显示的绝对值即为所述镜片(200)与所述隔圈(100)的空气间隔值。
2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,在所述步骤S100中,将所述承靠台(1)沿轴向竖放时,所述内螺纹(11)位于所述台阶(12)的上方。
3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,在所述步骤S100中,采用压力装置对所述镜片(200)进行打压时,确保所述隔圈(100)紧密抵接于所述台阶(12)以及所述镜片(200)紧密抵接于所述隔圈(100)。
4.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,在所述步骤S300中,将所述承靠台(1)沿轴向倒放时,所述内螺纹(11)位于所述台阶(12)的下方。
5.根据权利要求4所述的检测方法,其特征在于,所述步骤S300具体为:将所述测量定位件(3)从上至下放入所述通孔中,使所述测量孔(31)正对所述镜片(200)的最高点,再将所述高度计(4)的探针头穿过所述测量孔(31)并抵接所述镜片(200),并对所述高度计(4)的探针头进行归零,之后将所述测量定位件(3)取走,并使所述高度计(4)的探针头抵接于所述隔圈(100)的用于抵接所述台阶(12)的上表面,所述高度计(4)显示的绝对值即为所述镜片(200)与所述隔圈(100)的空气间隔值。
6.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述通孔包括第一段通孔(13)和第二段通孔(14),所述内螺纹(11)位于所述第一段通孔(13)内,所述台阶(12)位于所述第二段通孔(14)内,所述第一段通孔(13)的直径大于所述第二段通孔(14)的直径,所述镜片(200)的一端伸入所述第一段通孔(13)内并与所述第一段通孔(13)的内壁间隔设置,所述镜片(200)的另一端伸入所述第二段通孔(14)内并与所述第二段通孔(14)的内壁紧密抵接。
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