[发明专利]具有可编程采集历史的测试和测量仪器在审
申请号: | 202210295435.8 | 申请日: | 2022-03-24 |
公开(公告)号: | CN115201592A | 公开(公告)日: | 2022-10-18 |
发明(设计)人: | G·J·瓦尔多 | 申请(专利权)人: | 特克特朗尼克公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G11C7/10 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 刘艺诗;吕传奇 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 可编程 采集 历史 测试 测量 仪器 | ||
1.一种测试和测量设备,包括:
输入,被配置为接收用于测试的信号;
采集处理器,被配置为从接收的信号生成采集,将所述采集存储在采集存储器中,并将所述采集拷贝到数据存储部;以及
采集评估器,被配置为:
将数据存储部中的采集针对一个或多个准则进行比较,和
标识所选采集是否满足所述一个或多个准则。
2.根据权利要求1所述的测试和测量设备,其中,采集评估器被构造成当所述采集满足所述一个或多个准则时将所述采集拷贝到辅助存储器。
3.根据权利要求1所述的测试和测量设备,其中所述一个或多个准则包括由布尔运算符连结的至少两个准则。
4.根据权利要求2所述的测试和测量设备,其中,采集评估器进一步被配置为:
从辅助存储器选择采集;
将从辅助存储器选择的采集与第二一个或多个准则进行比较;以及
标识从辅助存储器选择的采集是否满足第二一个或多个准则。
5.根据权利要求2所述的测试和测量设备,进一步包括测量处理器,其被配置为根据存储在辅助存储器中的一个或多个采集进行测量。
6.根据权利要求5所述的测试和测量设备,其中测量处理器是累积处理器。
7.根据权利要求1所述的测试和测量设备,其中所述一个或多个准则包括视觉触发、测量触发、事件触发、搜索结果、掩模测试、总线解码结果或硬件触发中的至少一个。
8.一种测试和测量仪器中的方法,所述方法包括:
在测试输入处接收测试信号;
产生被测信号的数字化样本作为采集并将所述采集存储在采集存储器中;
将所述采集从采集存储器拷贝到仪器的存储器存储部;
将数据存储部中的采集与一个或多个准则进行比较;以及
标识所述采集是否满足所述一个或多个准则。
9.根据权利要求8所述的方法,进一步包括当所述采集满足所述一个或多个准则时,将所述采集拷贝到辅助存储器存储部。
10.根据权利要求8所述的方法,其中所述一个或多个准则包括由布尔运算符连结的至少两个准则。
11.根据权利要求9所述的方法,进一步包括:
从辅助存储器选择采集;
将从辅助存储器选择的采集与第二一个或多个准则进行比较;以及
标识从辅助存储器选择的采集是否满足第二一个或多个准则。
12.根据权利要求9所述的方法,进一步包括根据存储在辅助存储器中的一个或多个采集进行测量。
13.根据权利要求12所述的方法,其中根据存储在辅助存储器中的一个或多个采集进行测量包括进行累积测量。
14.根据权利要求8所述的方法,其中将所述多个采集中的所选一个与一个或多个准则进行比较包括将所述多个采集中的所选一个与视觉触发、测量触发、事件触发、搜索结果、掩模测试、总线解码结果或硬件触发中的至少一个进行比较。
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