[发明专利]具有可编程采集历史的测试和测量仪器

说明书

提供了具有可编程采集历史的测试和测量仪器。一种测试和测量仪器包括：输入，被配置为接收用于测试的信号；采集处理器，被配置为从接收的信号生成采集并将所述采集存储在采集存储器中，并将所述采集拷贝到数据存储部；以及采集评估器，被配置为将数据存储部中的所选采集针对一个或多个准则进行比较，并标识所述采集是否满足所述一个或多个准则。当所述采集满足所述一个或多个准则时，所述采集可以存储在仪器的辅助存储器中作为测量的所管理或所选历史，在其上可以进行测量或其他分析。

优先权

本公开要求于2021年3月24日提交的题为“Acquisition History Mode in aTest and Measurement Instrument”的美国临时申请第63/165,699号的权益，该申请通过引用以其整体并入本文。

技术领域

本公开涉及测试和测量仪器，并且更特别地，涉及用于存储和分析由这样的测试和测量仪器采集的某些数据的技术。

背景技术

诸如数字示波器、逻辑分析仪、频谱分析仪等测试和测量装备从被测设备（DUT）接收感兴趣的信号，并作为响应产生视觉或数据测量输出。大多数仪器也存储输入信号的记录。由于仪器中的存储器量是有限的，因此对于仪器中可以存储多少记录、样本或采集存在限制。能够存储在仪器中的采集数量取决于数据采样率、样本分辨率、采集记录长度和仪器中用于存储采集的存储器总量。

在一些仪器上可用的可选历史模式允许用户对存储在仪器存储器中的采集或波形样本执行测量，而不是在测试信号来自被测设备时测量测试信号。当启用历史模式时，用户可以从一个存储的采集导航到前一个或后一个采集。当用户从一个采集导航到另一个采集时，仪器的诸如测量、搜索、总线解码等所有活动分析特征在所选的采集上运行。该常规的历史模式有助于用户调试输入信号中发现的问题，因为他或她可以停下来并审阅感兴趣的事件。并且由于数据存储在仪器中，用户可以按照期望多次审阅感兴趣的事件。

虽然历史模式有助于调试或检查存储的输入波形，但有限的存储器量限制了实用性，因为非常不频繁发生的事件有可能不会被仪器捕获。例如，如果一个事件在DUT中平均每四个小时发生一次，并且该仪器具有一个小时的等效存储器存储，那么在任何给定的一个小时样本中该事件将被存储的机率仅有四分之一。

本公开的示例解决了现有技术的这些和其他缺陷。

附图说明

根据以下参考附图对示例的描述，本公开的示例的方面、特征和优点将变得清楚，其中：

图1是根据本公开的示例的具有可编程历史处理器的测试和测量仪器的框图。

图2是图示了根据本发明实施例的各种存储器存储部和可以应用于存储在这样的存储器存储部中数据的操作的框图。

图3是图示了根据本发明实施例的可以如何对来自主要主机存储器或来自数据存储历史或两者的采集选择性地执行测量或分析的框图。

图4是图示了根据本发明实施例的可以如何对来自主要主机存储器、来自数据存储历史或者来自取自数据存储历史的进一步合格的采集的采集选择性地执行测量或分析的另一个示例的框图。

图5是图示了根据本发明实施例的当配置图1的可编程历史处理器时用户可以调用的准则的框图。

具体实施方式

本文公开了一种具有可编程或可配置的采集历史处理器的测试和测量仪器。可配置历史处理器针对通常由用户指定的各种准则来评估存储在仪器的数据存储部中的采集。当存储的采集满足当前准则时，它被移动到数据存储历史，在那里它可以在稍后被选择、分析、测量和评估。如下所述，本发明的实施例允许仪器收集用户高度感兴趣的采集或事件的多个样本，而不管事件在测试期间可能发生得多么不频繁。