[发明专利]一种水平调节系统在审

专利信息
申请号: 202210312420.8 申请日: 2022-03-28
公开(公告)号: CN114594115A 公开(公告)日: 2022-06-07
发明(设计)人: 林雄;肖松文;左太森;马长利;程贺 申请(专利权)人: 散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01N23/202 分类号: G01N23/202;G01N23/20025
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 李林
地址: 523000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 水平 调节 系统
【权利要求书】:

1.一种水平调节系统,用于调节中子散射谱仪的准直系统的工作位置,其特征在于,所述水平调节系统包括:

真空箱体(1),所述真空箱体(1)的内部形成真空腔(11);

粗调机构(2),所述粗调机构(2)包括第一支撑柱(21),所述第一支撑柱(21)支撑连接于所述真空箱体(1);

精调机构(3),设置于所述真空腔(11)内且与所述真空腔(11)的内壁形成间隔,所述准直系统安装于所述精调机构(3)上;

密封支撑机构(4),所述密封支撑机构(4)包括第二支撑柱(41)以及波纹管(42),所述第二支撑柱(41)的一端固定连接于所述粗调机构(2),所述第二支撑柱(41)的另一端穿过所述真空箱体(1)的箱壁并支撑连接于所述精调机构(3),所述波纹管(42)套设于所述第二支撑柱(41)的外周,且所述波纹管(42)的一端密封连接于所述粗调机构(2),所述波纹管(42)的另一端密封连接于所述真空箱体(1)。

2.根据权利要求1所述的水平调节系统,其特征在于,所述粗调机构(2)还包括第一基板(22)、Z轴调节组件(23)以及第二基板(24),所述第一基板(22)安装在工作台或者地面上,所述第二基板(24)位于所述第一基板(22)的上方,所述Z轴调节组件(23)连接于所述第一基板(22)与所述第二基板(24)之间,所述Z轴调节组件(23)用于调节所述第二基板(24)在Z轴方向上的位置。

3.根据权利要求2所述的水平调节系统,其特征在于,所述粗调机构(2)还包括第三基板(25)和平面调节组件(26),所述第三基板(25)安装于所述第二基板(24)上,所述密封支撑机构(4)和所述第一支撑柱(21)均安装于所述第三基板(25)上,所述平面调节组件(26)连接于所述第三基板(25)与所述第二基板(24)之间,所述平面调节组件(26)用于调节所述第三基板(25)在XY平面上的位置。

4.根据权利要求3所述的水平调节系统,其特征在于,所述粗调机构(2)还包括锁紧组件(27),所述锁紧组件(27)安装于所述第三基板(25)上,所述锁紧组件(27)用于将所述第三基板(25)与所述第二基板(24)锁紧。

5.根据权利要求1所述的水平调节系统,其特征在于,所述密封支撑机构(4)还包括密封圈(43),所述波纹管(42)与所述粗调机构(2)之间以及所述波纹管(42)与所述真空箱体(1)之间均设置有所述密封圈(43)。

6.根据权利要求1所述的水平调节系统,其特征在于,所述精调机构(3)的底部安装有承载板(5),所述第二支撑柱(41)伸入所述真空腔(11)的一端与所述承载板(5)固定连接,所述精调机构(3)包括电机(31)、滚珠螺母丝杆(32)以及导轨滑块组件(33),所述导轨滑块组件(33)沿Y轴方向延伸设置,所述准直系统安装于所述导轨滑块组件(33)上,所述滚珠螺母丝杆(32)连接于所述电机(31)的输出端与所述导轨滑块组件(33)之间,所述电机(31)用于驱动所述导轨滑块组件(33)和所述准直系统沿Y轴方向移动。

7.根据权利要求6所述的水平调节系统,其特征在于,所述准直系统包括光学反射镜装置(100)、第一中子光阑板装置(200)、第二中子光阑板装置(300)、第一中子导管装置(400)以及第二中子导管装置(500),所述精调机构(3)设置为若干个,所述承载板(5)设置为两个;

第一个所述承载板(5)上并排安装有两个所述精调机构(3),所述光学反射镜装置(100)和所述第一中子导管装置(400)沿Y轴方向并排安装于其中一个所述精调机构(3)上,所述第一中子光阑板装置(200)安装于另一个所述精调机构(3)上;

第二个所述承载板(5)安装有所述第二中子导管装置(500)以及若干个所述精调机构(3),位于第二个所述承载板(5)上的若干个所述精调机构(3)均并排设置且每个所述精调机构(3)上均安装有所述第二中子光阑板装置(300)。

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