[发明专利]半导体器件和在用于系统级封装模块的包封物中嵌入电路图案的方法在审
申请号: | 202210325262.X | 申请日: | 2022-03-30 |
公开(公告)号: | CN115295426A | 公开(公告)日: | 2022-11-04 |
发明(设计)人: | J·H·郑;C·O·金;李喜秀 | 申请(专利权)人: | 星科金朋私人有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60;H01L23/31;H01L23/552 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 刘书航;陈岚 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 用于 系统 封装 模块 包封物中 嵌入 电路 图案 方法 | ||
1.一种制造半导体器件的方法,包括:
提供半导体组件组装,半导体组件组装包括部署在半导体组件组装上的包封物;
以电路图案的形式在包封物中形成多个开口;
在开口中沉积导电材料以形成电路图案;以及
在电路图案上部署电组件。
2.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:
将导电材料施加在包封物的表面上;以及
移除导电材料的一部分以暴露电路图案。
3.根据权利要求1所述的方法,进一步包括使包封物的表面和电路图案平坦化。
4.根据权利要求1所述的方法,其中电路图案包括互连结构或屏蔽层。
5.一种制造半导体器件的方法,包括:
以电路图案的形式在包封物中形成多个开口;以及
在开口中沉积导电材料以形成电路图案。
6.根据权利要求5所述的方法,进一步包括在电路图案上部署电组件。
7.根据权利要求5所述的方法,进一步包括:
将导电材料施加在包封物的表面上;以及
移除导电材料的一部分以暴露电路图案。
8.根据权利要求5所述的方法,进一步包括使包封物的表面和电路图案平坦化。
9.根据权利要求5所述的方法,其中电路图案包括互连结构或屏蔽层。
10.一种半导体器件,包括:
半导体组件组装;
包封物,其被部署在半导体组件组装上;
多个开口,其被以电路图案的形式形成在包封物中;
导电材料,其被沉积在开口中以形成电路图案;以及
电组件,其被部署在电路图案上。
11.根据权利要求10所述的半导体器件,其中导电材料被部署在包封物的表面上。
12.根据权利要求10所述的半导体器件,其中包封物的表面和电路图案被平坦化。
13.根据权利要求10所述的半导体器件,其中电路图案包括互连结构。
14.根据权利要求10所述的半导体器件,其中电路图案包括屏蔽层。
15.根据权利要求10所述的半导体器件,进一步包括激光器以在包封物中形成所述多个开口。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于星科金朋私人有限公司,未经星科金朋私人有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210325262.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造