[发明专利]事件检测方法、事件检测系统以及程序在审

专利信息
申请号: 202210336691.7 申请日: 2022-03-31
公开(公告)号: CN115143870A 公开(公告)日: 2022-10-04
发明(设计)人: 井口和之 申请(专利权)人: 旭化成微电子株式会社
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00;H04M1/72454
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 事件 检测 方法 系统 以及 程序
【权利要求书】:

1.一种事件检测方法,通过使用磁传感器检测预先决定的由磁场产生部产生的2轴以上的磁场,来检测与所述磁场产生部的位置相应的事件,所述事件检测方法包括以下阶段:

基于使用所述磁传感器检测出的磁场,获取事件产生位置;

基于所述事件产生位置,选择用于检测事件的检测轴;

计算所述检测轴上的与所述事件产生位置相应的触发阈值;以及

获取表示使用所述磁传感器检测出的磁场与所述触发阈值满足预先决定的条件的触发信号。

2.根据权利要求1所述的事件检测方法,其特征在于,还包括以下阶段:

使所述磁场产生部向预先决定的第一方向移动;以及

选择与所述第一方向平行的第一轴、或者与所述第一轴正交的第二轴,来作为所述检测轴。

3.根据权利要求2所述的事件检测方法,其特征在于,

使所述磁场产生部向预先决定的第一方向移动的阶段包括如下阶段:使所述磁场产生部在所述第一轴或所述第二轴上以在所述磁传感器上通过的方式移动。

4.根据权利要求2或3所述的事件检测方法,其特征在于,

选择所述检测轴的阶段包括如下阶段:

在所述事件产生位置属于所述第一轴上的可检测区域的情况下,选择所述第一轴,所述可检测区域是能够检测所述磁场产生部的位置的区域,

在所述事件产生位置不属于所述第一轴的可检测区域、而是属于所述第二轴的可检测区域的情况下,选择所述第二轴。

5.根据权利要求1~4中的任一项所述的事件检测方法,其特征在于,还包括以下阶段:

获取所述磁场产生部的基准位置;以及

基于所述基准位置和所述事件产生位置,选择所述检测轴。

6.根据权利要求1~5中的任一项所述的事件检测方法,其特征在于,还包括以下阶段:

计算由所述磁传感器检测的磁场的平方和的平方根;以及

使用所述平方和的平方根来计算与所述事件产生位置相应的触发阈值。

7.一种事件检测系统,具备:

磁场产生部,其产生预先决定的磁场;

磁传感器,其用于检测所述磁场产生部所产生的磁场;以及

处理部,其用于处理所述磁传感器所检测出的信号,

其中,所述处理部具有:

获取部,其基于使用所述磁传感器检测出的磁场,获取事件产生位置;

选择部,其基于所述事件产生位置,选择用于检测事件的检测轴;以及

计算部,其计算所述检测轴上的与所述事件产生位置相应的触发阈值;

所述事件检测系统还具有输出部,所述输出部输出表示使用所述磁传感器检测出的磁场与所述触发阈值满足预先决定的条件的触发信号。

8.根据权利要求7所述的事件检测系统,其特征在于,

所述选择部选择与所述磁场产生部移动的预先决定的第一方向平行的第一轴、或者与所述第一轴正交的第二轴,来作为所述检测轴。

9.根据权利要求8所述的事件检测系统,其特征在于,

所述磁场产生部具有在所述第一方向上排列的N极和S极。

10.根据权利要求8或9所述的事件检测系统,其特征在于,

具备在所述第一方向上配置的多个磁传感器。

11.根据权利要求7~10中的任一项所述的事件检测系统,其特征在于,

所述磁传感器是能够检测2轴以上的磁场的多轴磁传感器。

12.根据权利要求7~11中的任一项所述的事件检测系统,其特征在于,

所述处理部计算由所述磁传感器检测的磁场的平方和的平方根,使用所述平方和的平方根来计算与所述事件产生位置相应的触发阈值。

13.一种程序,用于使计算机执行根据权利要求1~6中的任一项所述的事件检测方法。

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