[发明专利]事件检测方法、事件检测系统以及程序

说明书

本发明提供一种事件检测方法、事件检测系统以及程序，事件检测方法通过使用磁传感器检测预先决定的由磁场产生部产生的2轴以上的磁场，来检测与磁场产生部的位置相应的事件，该事件检测方法包括以下阶段：基于使用磁传感器检测出的磁场来获取事件产生位置；基于事件产生位置，选择用于检测事件的检测轴；计算检测轴上的与事件产生位置相应的触发阈值；以及获取表示使用磁传感器检测出的磁场与触发阈值满足规定的条件的触发信号。

技术领域

本发明涉及一种事件检测方法、事件检测系统以及程序。

背景技术

专利文献1中记载了“提供一种即使检测对象的移动量变大，也能够利用1个检测部来检测检测对象的移动的位置传感器”。专利文献2中记载了“提供一种对于长的探测距离而言输出具有线性、并且能够进行检测精度高的位置检测的位置检测传感器”。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2019-2835号公报

专利文献2：日本特开2003-167627号公报

发明内容

在本发明的第一方式中，提供一种事件检测方法，通过使用磁传感器检测预先决定的由磁场产生部产生的2轴以上的磁场，来检测与磁场产生部的位置相应的事件，该事件检测方法包括以下阶段：基于使用磁传感器检测出的磁场来获取事件产生位置；基于事件产生位置来选择用于检测事件的检测轴；计算检测轴上的与事件产生位置相应的触发阈值；以及接收表示使用磁传感器检测出的磁场与触发阈值满足规定的条件的触发信号。

在本发明的第二方式中，提供一种事件检测系统，其具备：磁场产生部，其产生预先决定的磁场；磁传感器，其用于检测磁场产生部所产生的磁场；以及处理部，其用于处理磁传感器所检测出的信号，其中，处理部具有：获取部，其基于使用磁传感器检测出的磁场来获取事件产生位置；选择部，其基于事件产生位置，选择用于检测事件的检测轴；以及计算部，其计算检测轴上的与事件产生位置相应的触发阈值，磁传感器具有输出部，输出部输出表示所检测出的磁场与触发阈值满足规定的条件的触发信号。

在本发明的第三方式中，提供一种用于使计算机执行本发明的第一方式所记载的事件检测方法的程序。

此外，上述的发明的概要并未列举出本发明的所有特征。另外，这些特征组的子组合也能够另外构成发明。

附图说明

图1A是示出事件检测系统100的概要的框图。

图1B示出磁传感器20和处理部30的更具体的结构。

图2A示出磁场产生部10和磁传感器20的配置方法的一例。

图2B示出磁场产生部10和磁传感器20的配置方法的一例。

图2C示出磁场产生部10和磁传感器20的配置方法的一例。

图3A示出磁场产生部10被配置于基准位置P0的状态。

图3B示出磁场产生部10被配置于事件产生位置Pe的状态。

图3C示出与磁场产生部10的位置相应的磁场波形。

图3D示出与图3C的磁场波形对应的磁通密度及触发信号的变化。

图4A示出使用2轴磁场的阈值判定方法的一例。

图4B示出磁场产生部10和磁传感器20的配置方法的一例。

图4C示出磁场产生部10和磁传感器20的配置方法的一例。

图4D示出使用2轴磁场的阈值判定方法的一例。

图5示出使用1轴磁场的阈值判定方法的比较例。