[发明专利]发明半导体引线框架蚀刻产品制造的脱膜装置在审
申请号: | 202210341732.1 | 申请日: | 2022-03-29 |
公开(公告)号: | CN114724959A | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 陈利解;门松明珠;周爱和 | 申请(专利权)人: | 昆山一鼎工业科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;B08B3/02;B08B3/08;B08B3/14;B08B13/00 |
代理公司: | 常州至善至诚专利代理事务所(普通合伙) 32409 | 代理人: | 吴霜 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发明 半导体 引线 框架 蚀刻 产品 制造 装置 | ||
1.一种发明半导体引线框架蚀刻产品制造的脱膜装置,其特征在于,包括:
依次连通的浸水洗上槽(1)、喷水洗上槽(2)和脱膜机构(3);
所述浸水洗上槽(1)连通有上水过滤系统(4),所述上水过滤系统(4)采用水泵输送,所述浸水洗上槽(1)连通有母槽自循环系统(5);
所述喷水洗上槽(2)包括槽体(21)、设于槽体(21)底部的内子槽(22)和设于槽体(21)上部的上喷管(23);
所述脱模机构包括与所述喷水洗上槽(2)对接的对接框架(31)、设于对接框架(31)内的转动滚筒(32)和用于驱动转动滚筒(32)转动的转动电机(33),所述对接框架(31)远离所述喷水洗上槽(2)一侧设置有出料口(34),所述对接框架(31)内设置有脱膜喷水管(35)。
2.如权利要求1所述的发明半导体引线框架蚀刻产品制造的脱膜装置,其特征在于,
所述浸水洗上槽(1)包括依次连通的第一浸水洗槽(11)和第二浸水洗槽(12)。
3.如权利要求2所述的发明半导体引线框架蚀刻产品制造的脱膜装置,其特征在于,
所述上水过滤系统(4)包括若干个连通所述浸水洗上槽(1)的上水过滤筒(41)和用于将所述浸水洗上槽(1)内的水通入上水过滤筒(41)的上水水泵(42)。
4.如权利要求3所述的发明半导体引线框架蚀刻产品制造的脱膜装置,其特征在于,
所述母槽自循环系统(5)包括过滤母槽(51)和设于过滤母槽(51)上的过滤水泵(52)。
5.如权利要求4所述的发明半导体引线框架蚀刻产品制造的脱膜装置,其特征在于,
所述出料口(34)下方设置有膜回收槽(6)。
6.如权利要求5所述的发明半导体引线框架蚀刻产品制造的脱膜装置,其特征在于,
所述对接框架(31)内设置有承托机构(7);
所述承托机构(7)包括设于所述对接框架(31)底部的承接竖板(71)和转动连接于承接竖板(71)上的承托滚轮(72),所述承托滚轮(72)与所述转动滚筒(32)转动连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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