[发明专利]一种太赫兹波长测量与扫描成像一体化装置在审
申请号: | 202210342306.X | 申请日: | 2022-04-02 |
公开(公告)号: | CN114719979A | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 何正龙;方波;邬佳璐;郑捷;王震;蔡晋辉 | 申请(专利权)人: | 中国计量大学;杭州大华仪器制造有限公司 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/02;G01N21/3586 |
代理公司: | 宁波华拓同亿专利代理事务所(普通合伙) 33432 | 代理人: | 南梦怡 |
地址: | 310000 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 赫兹 波长 测量 扫描 成像 一体化 装置 | ||
1.一种太赫兹波长测量与扫描成像一体化装置,包括太赫兹源(1)、孔径光阑(2)、离轴抛物面镜(3)、分束镜(4)、反射镜M2(5)、反射镜M1(6),透镜(7)、待测物体(8)和探测器(9),其特征在于,所述装置将太赫兹波长测量与太赫兹扫描成像一体化,太赫兹波长测量与太赫兹扫描成像共用太赫兹源(1)、光阑(2)、离轴抛物面镜(3)、分束镜(4)、反射镜M2(5)、反射镜M1(6)、透镜(7)和探测器(9)。
2.根据权利要求1所述的一种太赫兹波长测量与扫描成像一体化装置,其特征在于,所述离轴抛物面镜(3)、分束镜(4)、反射镜M1(6)三器件中心位于同一直线上。
3.根据权利要求1所述的一种太赫兹波长测量与扫描成像一体化装置,其特征在于,所述离轴抛物面镜(3)、分束镜(4)、反射镜M1(6)的光路方向与X轴平行。
4.根据权利要求1所述的一种太赫兹波长测量与扫描成像一体化装置,其特征在于,所述反射镜M2(5)、分束镜(4)、透镜(7)的中心位于同一直线上。
5.根据权利要求1所述的一种太赫兹波长测量与扫描成像一体化装置,其特征在于,所述反射镜M2(5)、分束镜(4)、透镜(7)的光路方向与Y轴平行。
6.根据权利要求1所述的一种太赫兹波长测量与扫描成像一体化装置,其特征在于,所述孔径光阑(2)设置于离轴抛物面镜(3)和太赫兹源(1)之间。
7.根据权利要求1所述的一种太赫兹波长测量与扫描成像一体化装置,其特征在于,所述待测物体(8)被放置于透镜(7)和探测器(9)之间。
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