[发明专利]电感耦合等离子体发射光谱仪的气路监测及控制方法与装置

说明书

本发明公开了一种电感耦合等离子体发射光谱仪的气路监测及控制方法与装置，该装置包括：CPU；显示器，与所述CPU连接；主气路，两端分别连接供气装置和电感耦合等离子发射光谱仪；流量传感器，设于所述主气路上并与所述CPU连接，用于采集所述主气路内气体流速；气阀，设于所述主气路上并与所述CPU连接，用于控制所述主气路内气体流速；电机，设于所述气阀上并与所述CPU连接，用于驱动所述气阀闭合与开启；手动开关，与所述CPU连接，用于手动开启和关闭所述气路监测及控制装置。本发明解决了气体浪费问题，在气路发生异常时，能够自动进行干预。而且可以协助工程师迅速排查解决异常，降低人工成本和仪器维护成本，提高工作效率。

技术领域

本发明涉及理化检验技术领域，具体涉及一种电感耦合等离子体发射光谱仪的气路监测及控制方法与装置。

背景技术

电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-OES(Inductively Coupled Plasma OpticalEmission Spectrometer)，是利用高频电感耦合产生等离子体放电的光源来进行原子发射光谱分析的仪器，可用于地质、化工、生物、医药、冶金、农业等方面样品中七十多种金属元素和部分非金属元素的定性、定量分析，性能优异，应用广泛。

ICP-OES通常使用99.999％的高纯氩气作为工作用气，同时具备冷却气、载气、辅助气的功能，工作时供气流速约为12-20L/min，待机时供气流速约为0.6-3L/min。由于仪器本身的设计原理，ICP-OES的气路不是完全密闭的，待机时仍然需要持续供应氩气。待机状态为仪器工作前的必要状态，但长时间待机会容易产生异常，而且会浪费氩气。

现有气路控制方法主要依靠人工，根据设备运行状态判断漏气、失压等异常情况。出于安全考虑，供气装置(压缩气瓶)和用气设备往往设置在不同的区域，当气路出现异常时需要工程师来回排查调试，人工成本较高；另外，人工方式未对气路异常进行实时干预，属于事后排查调整，已经造成了气体浪费，不符合节能环保的要求。

发明内容

针对现有技术中存在的不足，本发明的目的在于提供一种电感耦合等离子体发射光谱仪的气路监测及控制方法与装置。本发明解决了气体浪费问题，在气路发生异常时，能够自动进行干预。而且可以协助工程师迅速排查解决异常，降低人工成本和仪器维护成本，提高工作效率。

为解决上述技术问题，本发明通过下述技术方案实现：

一方面，本发明提供一种电感耦合等离子体发射光谱仪的气路监测及控制方法，所述气路监测及控制方法包括：

1)系统启动后，在显示器上录入各项参数；

2)开启手动开关，导通电感耦合等离子发射光谱仪和供气装置之间的主气路；

3)流量传感器对主气路内气体进行自动采样并记录，并反馈至CPU；

4)CPU自动计算出气体流速，并在显示器上实时展示流速-时间动态；

5)CPU自动计时并执行逻辑判断，具体包括如下：

5.1)若气体实时流速处于第一阈值和第二阈值之间且第二阈值大于第一阈值时，CPU判定为正常状态，执行步骤3；否则执行下一步；

5.2)若气体实时流速大于第二阈值的累计时间超出第一时间参数时，CPU判定为漏气状态，执行步骤7；否则执行下一步；

5.3)若气体实时流速小于第一阈值的累计时间超出第二时间参数时，CPU判定为待机状态，执行步骤7，并执行下一步；否则执行步骤5.1；

5.4)若实时流速小于等于0L/min的累计时间超出第三时间参数时，CPU判定为断气状态，执行步骤6，并执行下一步；否则执行步骤5.1；

5.5)若显示器已发出两次黄色警告，执行步骤8；否则执行步骤5.1；