[发明专利]一种光伏模块芯片的封装传动控制系统有效
申请号: | 202210351536.2 | 申请日: | 2022-04-02 |
公开(公告)号: | CN114724985B | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 曹孙根;许波春;冯亚宁;吴博;张曹朋;陈松 | 申请(专利权)人: | 安徽钜芯半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160 | 代理人: | 杨凯 |
地址: | 247100 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 模块 芯片 封装 传动 控制系统 | ||
1.一种光伏模块芯片的封装传动控制系统,包括封装模块、检测模块、服务器,所述封装模块和检测模块均与服务器通信连接;其特征在于,服务器还通信连接有追踪模块、数据管理模块和分析模块;
所述追踪模块用于对芯片的封装过程进行追踪,并将采集的封装监控数据上传到云端进行储存;所述数据管理模块用于进行数据采集管理,并获得分析数据,将分析数据发送给分析模块;
所述分析模块用于对接收到的分析数据进行分析,具体方法包括:
设置数据提取单元,所述数据提取单元内设有数据填充模板,通过数据提取单元对检测数据进行数据提取,将提取的数据填充到数据填充模板中,将填充完数据的数据填充模板标记为精选数据,将精选数据进行坐标化,获得匹配坐标;
建立原因分析库,将匹配坐标输入到原因分析库中,获得对应的不合格原因分类数据;根据不合格原因分类数据对封装监控数据进行裁剪,获得分析视频,将分析视频、不合格原因分类数据和精选数据整合为分析输入数据,建立分析模型,将分析输入数据输入到分析模型中,获得封装模块调整数据,根据获得的封装模块调整数据对封装模块进行调整;
建立原因分析库的方法包括:
获取芯片封装具有的不合格原因以及不合格原因对应的精选数据,建立坐标模型,不合格原因进行归类,获得不合格原因分类数据;建立第一数据库,识别坐标区域数量,根据坐标区域的数量在第一数据库中设置对应数量的储存节点,将不合格原因分类数据分别储存到每个储存节点中,并将坐标区域与对应的储存节点相关联;将坐标模型储存到第一数据库中,将当前的第一数据库标记为原因分析库;
建立坐标模型的方法包括:
将精选数据进行坐标转化,形成范围坐标,对范围坐标打上对应的不合格原因标签,设置坐标系,将范围坐标输入到坐标系中,将坐标系中相同不合格原因标签的范围坐标进行整合,形成若干个坐标区域,并打上对应的不合格原因标签,将坐标系整合为坐标模型;
原因分析库的工作方法包括:
实时获取输入进来的匹配坐标,将获取到的匹配坐标输入到坐标模型中,识别匹配坐标位于的坐标区域,根据识别的坐标区域匹配到对应的不合格原因分类数据。
2.根据权利要求1所述的一种光伏模块芯片的封装传动控制系统,其特征在于,追踪模块的工作方法包括:
在芯片封装处设置监控单元,通过监控单元对当前芯片的封装过程进行实时监控,当该芯片封装结束后,监控单元将对应芯片封装的监控数据进行打包,标记为封装监控数据;
设置电子标签装置,通过电子标签装置对封装完成的芯片打上电子标签,匹配对应封装芯片的封装监控数据,将匹配到的封装监控数据与对应的电子标签进行相关联,将关联后的封装监控数据上传到云端进行储存。
3.根据权利要求1所述的一种光伏模块芯片的封装传动控制系统,其特征在于,数据管理模块的工作方法包括:
实时获取检测模块对封装芯片的检测数据和对应的检测结果,检测结果包括检测合格和检测不合格;在进行封装芯片检测处设有电子标签读写装置,通过电子标签读写装置读取封装芯片上的电子标签,根据识别的电子标签从云端中匹配对应的封装监控数据,当对应封装芯片的检测结果为检测合格时,将匹配的封装监控数据从云端中进行删除;当对应封装芯片的检测结果为检测不合格时,将匹配的封装监控数据和对应封装芯片的检测数据整合为分析数据。
4.根据权利要求1所述的一种光伏模块芯片的封装传动控制系统,其特征在于,数据提取单元的工作方法包括:
获取大量检测模块检测不合格的检测数据,对获得的不合格检测数据进行分析,识别不合格检测数据中包含的检测不合格项,设置对应检测不合格项的关键词,获取关键词对应的不合格参数,将一组不合格的检测数、关键词和对应的不合格参数整合为一个训练数据,将若干个训练数据整合为训练集,建立人工智能模型;通过训练集进行训练,将训练成功的人工智能模型标记为提取模型;根据关键词设置数据填充模板,并将数据填充模板与提取模型的输出数据相关联。
5.根据权利要求1所述的一种光伏模块芯片的封装传动控制系统,其特征在于,根据不合格原因分类数据对封装监控数据进行裁剪的方法包括:
获取芯片封装具有的封装步骤以及封装步骤对应的封装动作,根据封装步骤和对应的封装动作建立视频分割模型,识别不合格原因分类数据对应的封装步骤,获取需要进行分割的封装监控数据,对封装监控数据进行分割,根据识别的封装步骤获得对应的封装监控视频,标记为分析视频。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造