[发明专利]一种圆孔均匀性检测的方法和系统有效

专利信息
申请号: 202210357434.1 申请日: 2022-04-07
公开(公告)号: CN114445405B 公开(公告)日: 2022-07-26
发明(设计)人: 查世华;杨义禄;左右祥;关玉萍;阙世林;李波 申请(专利权)人: 中导光电设备股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/12;G06T7/136;G06V10/28;G06V10/46;G06V10/75;G06K9/62
代理公司: 广州维智林专利代理事务所(普通合伙) 44448 代理人: 赵晓慧
地址: 526238 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 圆孔 均匀 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种圆孔均匀性检测的方法,其特征在于,包括以下步骤:

采集样本图像,从所述样本图像中选择一张作为待检测圆孔图像;

获取圆孔的检测模板图像,包括:

A)从采集的N+1张样本图像中选择一张样本图像待用,所述选择的这张样本图像显著特征是圆孔轮廓没有被遮挡;

B)在所述选择的样本图像上以圆孔的中心为预处理模板图像的中心,以圆孔的直径再加上左右各外扩的4个像素作为预处理模板图像的宽度,以圆孔的直径再加上上下各外扩的4个像素作为预处理模板图像的高度,获取预处理模板图像;

C)将预处理模板图像与其他N张样本图像用5X5的Sobel算法提取圆孔的边界,然后采用归一化的互相关算法进行图像配准,根据配准位置采用三次曲线亚像素插值依次从样本图像中获取N张配准图像;

D)将N张配准图像相同位置的每个像素点的高灰阶的百分之三像素点和低灰阶的百分之三像素点去除,该相同位置剩余像素点的灰阶均值作为该位置像素点的检测模板图像的灰阶值;

将所述待检测圆孔图像和圆孔的检测模板图像进行精准匹配,得到待检测圆孔图像精准匹配图像;

将待检测圆孔图像精准匹配图像与检测模板图像的高斯图像差的绝对值图像二值化;

预处理所述高斯图像差的绝对值图像的二值化图像;

根据二值化图像预处理的结果判断圆孔的均匀性。

2.根据权利要求1所述的一种圆孔均匀性检测的方法,其特征在于:

所述采集样本图像过程如下:

采集N+1张显示屏幕样本图像,保存至硬盘待用。

3.根据权利要求1或2所述的一种圆孔均匀性检测的方法,其特征在于:

所述将所述待检测圆孔图像和圆孔的检测模板图像进行精准匹配的过程如下:

用5X5的Sobel算法提取圆孔的边界,然后采用归一化的互相关算法进行图像配准,采用三次曲线亚像素插值获取待检测圆孔的精准匹配图像。

4.根据权利要求3所述的一种圆孔均匀性检测的方法,其特征在于:

所述将待检测圆孔图像精准匹配图像与检测模板图像的高斯图像差的绝对值图像二值化的方法如下:

A)把待检测图像的精准匹配图像和检测模板图像同时做5X5高斯预处理;

B)获取待检测圆孔图像精准匹配图像与检测模板图像的高斯图像差的绝对值图像;

C)采用最大类间方差法计算所述差的绝对值图像的分割阈值;

D)计算所述差的绝对值图像均值,以分割阈值和图像均值的平均值作为差的绝对值图像的二值化阈值。

5.根据权利要求1或4所述的一种圆孔均匀性检测的方法,其特征在于:

所述预处理所述高斯图像差的绝对值图像的二值化图像的方法如下:

A)去除孔的边界干扰,把二值化图像的上下左右各4个像素灰阶设为0;

B)对二值化图像先做3次膨胀处理,再做1次腐蚀处理,获得二值化图像的预处理图。

6.根据权利要求5所述的一种圆孔均匀性检测的方法,其特征在于:

所述根据二值化图像预处理的结果判断圆孔的均匀性的方法如下:

如果所述二值化图像的预处理图中灰阶为255的像素个数小于设定的像素个数,则判断孔均匀,否则判断孔不均匀。

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