[发明专利]故障检测设备、方法、计算机产品及可读存储介质

权利要求书

1.一种故障检测设备，其特征在于，包括：处理模块、第一陪试模块和第二陪试模块；

所述第一陪试模块和所述第二陪试模块并联以形成并联电路，所述并联电路与待测试品形成测试电路；

所述处理模块，与所述测试电路电连接，用于监测所述第一陪试模块导通且所述第二陪试模块断开时，所述待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内所述测试电路的第一状态，并根据所述第一状态判断所述待测试品是否发生故障；和/或用于监测所述第一陪试模块断开且所述第二陪试模块导通时，所述待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，所述测试电路的第二状态，并根据所述第二状态判断所述待测试品是否发生故障。

2.根据权利要求1所述的故障检测设备，其特征在于，所述第一陪试模块包括串联的第一陪试品和第一阻抗单元，所述第一陪试品具有可控结构以实现所述第一陪试模块的闭合和断开，所述第二陪试模块包括串联的第二陪试品和第二阻抗单元，所述第二陪试品具有可控结构以实现所述第二陪试模块的闭合和断开。

3.根据权利要求2所述的故障检测设备，其特征在于，所述第一阻抗单元的阻抗值小于所述第二阻抗单元的阻抗值。

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的故障检测设备，其特征在于，所述故障检测设备还包括：

电流传感模块，用于监测所述测试电路中是否有电流，并将监测结果发送至所述处理模块；

所述处理模块，还用于接收所述监测结果；

所述处理模块根据所述第一状态判断所述待测试品是否发生故障，包括：

当所述待测试品由断开至闭合后的所述第一预定时间段之内，所述监测结果为所述测试电路中不出现所述电流时则判定所述第一状态为不导通，并根据所述第一状态为不导通状态判定所述待测试品的闭合发生故障；

所述处理模块根据所述第二状态判断所述待测试品是否发生故障，包括：

当所述待测试品由闭合至断开后的所述第二预定时间段之后，所述监测结果为所述测试电路中具有所述电流时则判定所述第二状态为导通，并根据所述第二状态为导通状态判定所述待测试品的断开发生故障。

5.根据权利要求1至3中任意一项所述的故障检测设备，其特征在于，所述故障检测设备还包括：

电压传感模块，用于监测所述待测试品是否有输出电压，并将监测结果发送至所述处理模块；

所述处理模块，还用于接收所述监测结果；

所述处理模块根据所述第一状态判断所述待测试品是否发生故障，包括：

当所述待测试品由断开至闭合后的所述第一预定时间段之内，所述监测结果为所述待测试品不出现所述输出电压时则判定所述第一状态为不导通，并根据所述第一状态为不导通状态判定所述待测试品的闭合发生故障；

所述处理模块根据所述第二状态判断所述待测试品是否发生故障，包括：

当所述待测试品由闭合至断开后的所述第二预定时间段之后，所述监测结果为所述待测试品具有所述输出电压时则判定所述第二状态为导通，并根据所述第二状态为导通状态判定所述待测试品的断开发生故障。

6.根据权利要求1至3中任意一项所述的故障检测设备，其特征在于，所述处理模块，还用于控制所述第一陪试模块和所述第二陪试模块的导通和断开，以及控制所述待测试品的闭合和断开。

7.一种故障检测方法，其特征在于，所述故障检测方法由故障检测设备执行，所述故障检测设备包括：处理模块、第一陪试模块和第二陪试模块；

所述第一陪试模块和所述第二陪试模块并联以形成并联电路，所述并联电路与待测试品形成测试电路；所述处理模块与所述测试电路电连接；

所述故障检测方法包括：

所述处理模块监测所述第一陪试模块导通且所述第二陪试模块断开，所述待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，所述测试电路的第一状态，并根据所述第一状态判断所述待测试品是否发生故障；

和/或，监测所述第一陪试模块断开且所述第二陪试模块导通，所述待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，所述测试电路的第二状态，并根据所述第二状态判断所述待测试品是否发生故障。