[发明专利]故障检测设备、方法、计算机产品及可读存储介质

说明书

本申请实施例提供一种故障检测设备、方法、计算机产品及可读存储介质。上述故障检测设备包括第一陪试模块和第二陪试模块并联以形成并联电路，并联电路与待测试品形成测试电路。处理模块与测试电路电连接，用于监测第一陪试模块导通且第二陪试模块断开时，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，测试电路的第一状态，并根据第一状态判断待测试品是否发生故障；和/或用于监测第一陪试模块断开且第二陪试模块导通时，待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，测试电路的第二状态，并根据第二状态判断待测试品是否发生故障。本申请实施例能在待测试品的耐久性试验过程中对待测试品是否发生故障进行有效的监测。

技术领域

本申请涉及电路领域，尤其涉及一种故障检测设备、方法、计算机产品及可读存储介质。

背景技术

随着科技的发展，电器的应用也越来越普及，比如行程开关。行程开关又称位置开关或限位开关，并且随着信息技术的发展，行程开关的应用越来越广泛，种类和规格也越来越多。比如行程开关的种类可以包括直动式行程开关和摆动式行程开关等，在此不在列举。

目前，在行程开关等电器的产线中需要对行程开关等电器的电气耐久性进行测试。比如，在行程开关等电器的电气耐久性进行测试的过程中，需要周期性的对行程开关等电器进行接通和分断。但是现有技术中在对行程开关等电器的电气耐久性进行测试的过程中，行程开关等电器发生的接通和断开故障不可实时监控，所以易发生测试误差，测试的可靠性较差。

发明内容

鉴于上述问题，本申请提供一种故障检测设备、方法、计算机产品及可读存储介质，使得在待测试品的耐久性试验过程中能够对待测试品是否发生故障进行实时有效的监测，从而提高测试的可靠性。

第一方面，本申请实施例提供了一种故障检测设备，包括处理模块、第一陪试模块和第二陪试模块。第一陪试模块和第二陪试模块并联以形成并联电路，并联电路与待测试品形成测试电路。处理模块与测试电路电连接，用于监测第一陪试模块导通且第二陪试模块断开时，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，测试电路的第一状态，并根据第一状态判断待测试品是否发生故障；以及用于监测第一陪试模块断开且第二陪试模块导通时，待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，测试电路的第二状态，并根据第二状态判断待测试品是否发生故障。

本申请实施例相对于现有技术而言，由于第一陪试模块导通且第二陪试模块断开时，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，上述测试电路的第一状态应是导通状态，所以处理模块能够根据第一状态准确地判断待测试品是否发生故障。由于第一陪试模块断开且第二陪试模块导通时，待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，上述测试电路的第二状态应是不导通状态，所以处理模块能够根据第二状态准确地判断待测试品是否发生故障。综上，本申请实施例的技术方案使得在待测试品的耐久性试验过程中能够对待测试品是否发生故障进行有效的监测，从而提高测试的可靠性。

在一些实施例中，第一陪试模块包括串联的第一陪试品和第一阻抗单元，第一陪试品具有可控结构以实现第一陪试模块的闭合和断开，第二陪试模块包括串联的第二陪试品和第二阻抗单元，第二陪试品具有可控结构以实现第二陪试模块的闭合和断开。本申请的技术方案中，提供了一种第一陪试模块以及第二陪试模块的具体结构形式，并且这种电路结构较为简单，可以节省电路布局空间。

在一些实施例中，第一阻抗单元的阻抗值小于第二阻抗单元的阻抗值。本申请实施例中，可以根据待测试品的型号来选用第一阻抗单元的型号和阻值，以及选用第二阻抗单元的型号和阻值。