[发明专利]信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种信号测试方法，其特征在于，应用于PCIe总线系统，所述PCIe总线系统用于连接RC设备和PCIe设备，所述PCIe总线系统包括位于与RC设备连接的物理层中的目标缓存区域，所述物理层用于对待测试设备的发送信号和接收信号进行处理，所述待测试设备为所述RC设备，所述信号测试方法包括：

在所述目标缓存区域中，基于第一信号和第二信号，获取表征待测试信号质量的测试信息，所述第一信号和所述第二信号分别为经过所述物理层处理前后的所述待测试信号，所述待测试信号包括所述待测试设备的接收信号和/或发射信号；

所述基于第一信号和第二信号，获取表征待测试信号质量的测试信息包括：

对比所述第一信号与所述第二信号的差异，获得表征所述待测试信号质量的误码信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于第一信号和第二信号，获取表征所述待测试信号质量的测试信息之前还包括：

获取所述待测试信号；

对所述待测试信号进行采样，以获得所述第一信号，将采样获得的所述第一信号存储在所述目标缓存区域中；

将所述待测试信号经过所述物理层处理，以获得所述第二信号。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述PCIe总线系统还包括配置寄存器，所述配置寄存器中预先存储有配置参数，所述对所述待测试信号进行采样，以获得所述第一信号包括：

根据所述配置参数，对所述待测试信号进行采样，以获得至少一个所述第一信号。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述PCIe总线系统还包括状态寄存器，若采样获得所述第一信号的数量为多个，多个所述第一信号包括的数据不同，所述将采样获得的所述第一信号存储在所述目标缓存区域中包括：

将采样获得的至少一个所述第一信号存储在所述状态寄存器中。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述PCIe总线系统还包括状态寄存器，所述基于第一信号和第二信号，获取表征所述待测试信号质量的测试信息包括：

根据所述配置参数，对比所述第一信号与所述第二信号的差异，获得表征所述待测试信号质量的误码信息，并将所述误码信息存储在所述状态寄存器中。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于第一信号和第二信号，获取表征所述待测试信号质量的测试信息之后还包括：

基于所述测试信息，生成可视化的测试结果。

7.一种信号测试装置，其特征在于，应用于PCIe总线系统，所述PCIe总线系统用于连接RC设备和PCIe设备，所述PCIe总线系统包括位于与RC设备连接的物理层中的目标缓存区域，所述物理层用于对待测试设备的发送信号和接收信号进行处理，所述待测试设备为所述RC设备，所述信号测试装置包括：

测试信息模块，用于在所述目标缓存区域中，基于第一信号和第二信号，获取表征待测试信号质量的测试信息，所述第一信号和所述第二信号分别为经过所述物理层处理前后的所述待测试信号，所述待测试信号包括所述待测试设备的接收信号和/或发射信号；

所述测试信息模块，基于第一信号和第二信号，获取表征待测试信号质量的测试信息具体用于，对比所述第一信号与所述第二信号的差异，获得表征所述待测试信号质量的误码信息。