[发明专利]信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质

说明书

本说明书提供了一种信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质，其中，所述信号测试方法在PCIe总线系统物理层的目标缓存区域中，基于经过所述物理层处理前后的待测试信号（即第一信号和第二信号），获取表征所述待测试信号质量的测试信息，实现在PCIe总线系统内部对待测试信号质量进行测试的目的。利用本说明书提供的信号测试方法进行信号质量测试，一方面不会妨碍待测试信号正常通过物理层，无需因为信号测试而中断正常信号传输，有利于提高测试和使用效率，为实现实时的信号测试奠定了基础。另一方面，由于该方法无需外接测试设备，简化了信号测试步骤，提高了测试效率，而且有利于降低信号测试所需的硬件成本。

技术领域

本说明书涉及信号处理技术领域，更具体地说，涉及一种信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质。

背景技术

PCIe（Peripheral Component Interconnect express）是一种高速串行计算机扩展总线标准，广泛应用于计算机系统中。PCIe总线属于高速串行点对点双通道高带宽传输总线，其所连接的设备分配独享通道带宽，不共享总线带宽，具有高传输速率的特点。

但随着系统信号传输速率的提升以及一些应用场景对于系统信号稳定性要求的不断提高，提出了对于PCIe信号质量监测的需求，目前针对PCIe信号质量监测的相关技术中，存在信号测试效率低下等问题。

发明内容

有鉴于此，本说明书实施例致力于提供一种信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质，以实现提高信号测试效率，降低信号测试成本的目的。

第一方面，本说明书提供了一种信号测试方法，应用于PCIe总线系统，所述PCIe总线系统包括位于物理层中的目标缓存区域，所述信号测试方法包括：

在所述目标缓存区域中，基于第一信号和第二信号，获取表征所述待测试信号质量的测试信息，所述第一信号和所述第二信号分别为经过所述物理层处理前后的待测试信号。

可选地，所述基于第一信号和第二信号，获取表征所述待测试信号质量的测试信息之前还包括：

获取所述待测试信号；

对所述待测试信号进行采样，以获得所述第一信号，将采样获得的所述第一信号存储在所述目标缓存区域中；

将所述待测试信号经过所述物理层处理，以获得所述第二信号。

可选地，所述PCIe总线系统还包括配置寄存器，所述配置寄存器中预先存储有配置参数，所述对所述待测试信号进行采样，以获得所述第一信号包括：

根据所述配置参数，对所述待测试信号进行采样，以获得至少一个所述第一信号。

可选地，所述PCIe总线系统还包括状态寄存器，若采样获得所述第一信号的数量为多个，多个所述第一信号包括的数据不同，所述将采样获得的所述第一信号存储在所述目标缓存区域中包括：

将采样获得的至少一个所述第一信号存储在所述状态寄存器中。

可选地，所述PCIe总线系统还包括位于所述目标缓存区域中的状态寄存器，所述基于第一信号和第二信号，获取表征所述待测试信号质量的测试信息包括：

根据所述配置参数，对比所述第一信号与所述第二信号的差异，获得表征所述待测试信号质量的误码信息，并将所述误码信息存储在所述状态寄存器中。

可选地，所述基于第一信号和第二信号，获取表征所述待测试信号质量的测试信息之后还包括：

基于所述测试信息，生成可视化的测试结果。

第二方面，本说明书实施例提供了一种信号测试装置，应用于PCIe总线系统，所述PCIe总线系统包括位于物理层中的目标缓存区域，所述信号测试装置包括：