[发明专利]检查编码芯片内部滚动码重复的方法及装置在审
申请号: | 202210376549.5 | 申请日: | 2022-04-12 |
公开(公告)号: | CN114691538A | 公开(公告)日: | 2022-07-01 |
发明(设计)人: | 王建 | 申请(专利权)人: | 苏州华芯微电子股份有限公司 |
主分类号: | G06F12/02 | 分类号: | G06F12/02;G01D5/245 |
代理公司: | 苏州三英知识产权代理有限公司 32412 | 代理人: | 仲崇明 |
地址: | 215011 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检查 编码 芯片 内部 滚动 重复 方法 装置 | ||
1.一种检查编码芯片内部滚动码重复的方法,其特征在于,所述方法包括:
获取编码芯片的滚动码;
根据所述滚动码寻址到对应的映射内存空间;以及
根据所述映射内存空间的状态判断所述滚动码是否重复。
2.如权利要求1所述的检查编码芯片内部滚动码重复的方法,其特征在于,所述方法还包括:
检测所述滚动码是否在预设检测范围内;若是,
获取预设容量的映射内存空间;以及
将所述映射内存空间进行初始化。
3.如权利要求1所述的检查编码芯片内部滚动码重复的方法,其特征在于,根据所述滚动码寻址到对应的映射内存空间,包括:
根据所述滚动码计算对应的偏移地址;以及
根据所述偏移地址和所述滚动码计算所述编码芯片对应的映射内存空间地址位,以寻址到对应的映射内存空间。
4.如权利要求1所述的检查编码芯片内部滚动码重复的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在所述滚动码重复时,将所述滚动码对应的编码芯片设置为不良品;或,
在所述滚动码不重复时,将所述映射内存空间设置为预设值,用于标记所述滚动码。
5.如权利要求1所述的检查编码芯片内部滚动码重复的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在未获取到所述滚动码时,将所述滚动码对应的编码芯片设置为不良品。
6.一种检查编码芯片内部滚动码重复的装置,其特征在于,所述装置包括:
获取模块,用于获取编码芯片的滚动码;
寻址模块,用于根据所述滚动码寻址到对应的映射内存空间;
判断模块,用于根据所述映射内存空间的状态判断所述滚动码是否重复。
7.如权利要求6所述的检查编码芯片内部滚动码重复的装置,其特征在于,所述获取模块还用于:
检测所述滚动码是否在预设检测范围内;若是,
获取预设容量的映射内存空间;以及
将所述映射内存空间进行初始化。
8.如权利要求6所述的检查编码芯片内部滚动码重复的装置,其特征在于,所述寻址模块还用于:
根据所述滚动码计算对应的偏移地址;以及
根据所述偏移地址和所述滚动码计算所述编码芯片对应的映射内存空间地址位,以寻址到对应的映射内存空间。
9.一种电子设备,其特征在于,包括:
至少一个处理器;以及
存储器,所述存储器存储指令,当所述指令被所述至少一个处理器执行时,使得所述至少一个处理器执行如权利要求1至5中任一项所述的检查编码芯片内部滚动码重复的方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述的检查编码芯片内部滚动码重复的方法的步骤。
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