[发明专利]检查编码芯片内部滚动码重复的方法及装置在审

专利信息
申请号: 202210376549.5 申请日: 2022-04-12
公开(公告)号: CN114691538A 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 王建 申请(专利权)人: 苏州华芯微电子股份有限公司
主分类号: G06F12/02 分类号: G06F12/02;G01D5/245
代理公司: 苏州三英知识产权代理有限公司 32412 代理人: 仲崇明
地址: 215011 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 检查 编码 芯片 内部 滚动 重复 方法 装置
【说明书】:

发明公开了一种检查编码芯片内部滚动码重复的方法及装置,该方法包括以下步骤:获取编码芯片的滚动码;根据所述滚动码寻址到对应的映射内存空间;根据所述映射内存空间判断所述滚动码是否重复。该方法能够通过增加滚动码映射的内存空间,实现快速检查滚动码重复的算法,使得无需额外设备,就能保证同一批次编码芯片的滚动码没有重复,同时不影响其他测试项目。

技术领域

本发明是关于编码芯片滚动码领域,特别是关于一种检查编码芯片内部滚动码重复的方法及装置。

背景技术

在当今各类电子设备中,编码芯片是一种必不可少的器件。编码芯片由于技术成熟,成本较低,常作为各种中小型电子产品的控制电路。在大规模使用编码芯片时,经常需要在芯片内部写入滚动码以区分同一产品的不同实体。典型的应用场景就是电动车的遥控器、车库卷帘门遥控,其内部主要使用的就是单片机控制电路。在批量生产电动车时需要单独匹配电动车和遥控器,以防止单个遥控器同时解锁多辆电动车、开启多扇遥控门。因此在编码芯片生产测试阶段,滚动码的重码检查就尤为重要。

公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本发明的总体背景的理解,而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。

发明内容

本发明的目的在于提供一种检查编码芯片内部滚动码重复的方法及装置,解决现有编码芯片存在滚动码重复的问题。

为实现上述目的,本发明的实施例提供了一种检查编码芯片内部滚动码重复的方法。

在本发明的一个或多个实施方式中,所述方法包括:获取编码芯片的滚动码;根据所述滚动码寻址到对应的映射内存空间;根据所述映射内存空间判断所述滚动码是否重复。

在本发明的一个或多个实施方式中,所述方法还包括:检测所述滚动码是否在预设检测范围内;若是,获取预设容量的映射内存空间;以及将所述映射内存空间进行初始化。

在本发明的一个或多个实施方式中,根据所述滚动码寻址到对应的映射内存空间,包括:根据所述滚动码计算对应的偏移地址;以及根据所述偏移地址和所述滚动码计算所述编码芯片对应的映射内存空间地址位,以寻址到对应的映射内存空间。

在本发明的一个或多个实施方式中,所述方法还包括:在所述滚动码重复时,将所述滚动码对应的编码芯片设置为不良品;或,在所述滚动码不重复时,将所述映射内存空间设置为预设值,用于标记所述滚动码。

在本发明的一个或多个实施方式中,所述方法还包括:在未获取到所述滚动码时,将所述滚动码对应的编码芯片设置为不良品。

在本发明的另一个方面当中,提供了一种检查编码芯片内部滚动码重复的装置,其包括获取模块、寻址模块和判断模块。

获取模块,用于获取编码芯片的滚动码。

寻址模块,用于根据所述滚动码寻址到对应的映射内存空间。

判断模块,用于根据所述映射内存空间判断所述滚动码是否重复。

在本发明的一个或多个实施方式中,所述获取模块还用于:检测所述滚动码是否在预设检测范围内;若是,获取预设容量的映射内存空间;以及将所述映射内存空间进行初始化。

在本发明的一个或多个实施方式中,所述寻址模块还用于:根据所述滚动码计算对应的偏移地址;以及根据所述偏移地址和所述滚动码计算所述编码芯片对应的映射内存空间地址位,以寻址到对应的映射内存空间。

在本发明的一个或多个实施方式中,所述判断模块还用于:在所述滚动码重复时,将所述滚动码对应的编码芯片设置为不良品;或,在所述滚动码不重复时,将所述映射内存空间设置为预设值,用于标记所述滚动码。

在本发明的一个或多个实施方式中,所述判断模块还用于:在未获取到所述滚动码时,将所述滚动码对应的编码芯片设置为不良品。

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