[发明专利]一种针对玻璃面板的多类型缺陷检测系统和方法

说明书

本发明公开了一种针对玻璃面板的多类型缺陷检测系统和方法，涉及机器视觉的技术领域，图像获取模块获取玻璃面板原始图像，场景选择模块选择一个检测场景，检测图库模块判断是否已经历过该检测场景；画检分区模块确定出感兴趣区域图像，预处理模块对其进行预处理操作；阈值分割模块计算预处理图像的阈值，利用该阈值对其进行二值化操作；测量拟合模块对二值化图像进行缺陷形状拟合，计算缺陷形状的特征参数，确定当前场景下玻璃面板原始图像具有的缺陷类型；判断汇总模块实现对所有检测场景的遍历，汇总多场景下的缺陷检测结果后输出。本发明实现了多检测场景下对玻璃面板多类型缺陷的检测，检测时间短，检测效率高，检测算法的复用率高。

技术领域

本发明涉及机器视觉的技术领域，更具体地，涉及一种针对玻璃面板的多类型缺陷检测系统和方法。

背景技术

液晶显示器是由一定数量的彩色或黑白像素组成的平面超薄显示设备，将其放置于光源或者反射面前方，给液晶施加一个电场，会改变它的分子排列，这时配合偏振光片，就具有了阻止光线通过的作用，即不施加电场时光线可以顺利透过，施加电场时光线被阻断。如果再配合彩色滤光片，通过改变施加的电压大小，就能改变某一颜色透光量的多少，也可以形象地说改变液晶两端的电压就能改变其透光度。随着lcd液晶面板的批量生产，越来越需要对lcd液晶面板的生产质量进行检测。lcd面板缺陷主要分为点缺陷、线缺陷和mura类缺陷。其中，点缺陷又分为亮点和暗点；线缺陷分为垂直、水平和斜线缺陷；mura类缺陷则会细分为多类缺陷。因此，lcd面板检测中，需要针对这些缺陷进行相应的检测。现有的检测方案是针对不同检测场景下的每类缺陷，产生一个检测算法逻辑。设置多场景检测是为了给同一工件设置不同的外部环境来凸显某一类缺陷，以此达到覆盖生产过程中产生的所有异常缺陷。比如在白屏场景下的点缺陷就需要开发一套特定的算法，其他缺陷又需要针对性的开发其他检测算子。lcd液晶面板缺陷检测具有缺陷种类多，检测场景多的特点，因此，目前的这种检测方式极大降低了算法的复用性，也会延长开发周期，增加开发成本。

现有技术公开了一种小尺寸玻璃面板表面缺陷检测方法及系统，所述方法包括：首先提取面板边轮廓和音孔轮廓，在此基础上提取内部区域灰度图像；并进一步得到内部区域特征图，计算特征图灰度均值；基于特征图灰度均值设定阈值进行分割，并对分割后的结果进行BLOB分析根据所选面积、长宽比等特征进行判断，排除灰尘等伪缺陷，检测出缺陷。该申请仅能在单一场景下检测玻璃面板的缺陷，检测效率低，检测算法的复用率低。

发明内容

本发明为克服上述现有技术仅能在单一场景下对玻璃面板的单一缺陷进行检测的缺陷，提供一种针对玻璃面板的多类型缺陷检测系统和方法，可以在多种场景下，对玻璃面板的多类型缺陷进行检测，提高了检测效率和检测算法复用率。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案如下：

本发明提供了一种针对玻璃面板的多类型缺陷检测系统，包括：

图像获取模块，用于获取玻璃面板原始图像；

场景选择模块，用于从现有的检测场景库中选择检测场景；

检测图库模块，用于判断检测图库中是否存在玻璃面板原始图像在当前检测场景下的中间过程图像；若存在，返回场景选择模块，选择下一场景；否则，将玻璃面板原始图像发送至画检分区模块；

画检分区模块，用于在玻璃面板原始图像上划取感兴趣区域，获得感兴趣区域图像；

预处理模块，用于对感兴趣区域图像进行预处理操作，获得预处理图像；

阈值分割模块，用于计算预处理图像的图像阈值，并利用图像阈值对预处理图像进行分割，获得二值化图像；

测量拟合模块，用于对二值化图像进行缺陷形状拟合，并计算拟合出的缺陷形状的特征参数，与预设的参数阈值进行对比，获得当前检测场景下玻璃面板具有的缺陷类型；