[发明专利]一种基于荧光光谱仪的镀锡板的镀锡量检测方法在审

专利信息
申请号: 202210384688.2 申请日: 2022-04-13
公开(公告)号: CN114778582A 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 周保欣;徐海卫;方圆;胡建军;于孟;鲍成人;莫志英;朱防修;石云光;王振文;宋浩;吴志国;孙超凡;王雅晴 申请(专利权)人: 首钢京唐钢铁联合有限责任公司;首钢集团有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 王瑞琳
地址: 063200*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 荧光 光谱仪 镀锡 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于荧光光谱仪的镀锡板的镀锡量检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

对标准镀锡量样品进行荧光光谱分析,得到荧光强度与镀锡量的标准曲线;

从待测镀锡板中得到待测镀锡板样品;

所述待测镀锡板样品包括至少一个待测区域,将所述待测区域置于荧光光谱仪的检测区域,得到测量值;

根据所述测量值和所述标准曲线,得到所述待测区域的镀锡量。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测镀锡板样品从待测镀锡板的边部截取而来,所述待测镀锡板样品的边缘与待测镀锡板的边缘距离≥0mm。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述标准镀锡量样品的镀锡量为1.1g/m2-15.6g/m2

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测镀锡板样品包括至少一个待测区域,将所述待测区域置于荧光光谱仪的检测区域,得到所述待测区域的镀锡量包括:

根据定位件,所述待测镀锡板样品包括至少一个待测区域,将所述待测区域置于荧光光谱仪的检测区域,得到所述待测区域的镀锡量。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测区域为圆形,所述待测区域的直径≥1mm。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述荧光光谱分析中,光栏的直径为1-5mm。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测镀锡板样品包括尺寸为35-50mm×3-10mm的矩形片状样品或直径为40-50mm的圆片状样品。

8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测区域设有样品定位件,所述样品定位件用于固定所述待测镀锡板样品。

9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述样品定位件靠近所述待测镀锡板样品的一侧设有通孔,所述通孔用于暴露所述待测镀锡板样品,以使所述待测镀锡板样品被所述荧光光谱仪检测。

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