[发明专利]一种基于空角一致性光场抠图评价方法及装置

说明书

本发明公开了一种基于空角一致性光场抠图评价方法及装置，其包括：步骤1，提取光场数据的中心子孔径图像；步骤2，计算光场数据的视差图和光场数据中心子孔径图像alpha图；步骤3，对中心子孔径图像alpha图进行传播，获取光场alpha图；步骤4，通过在空间域获取的空角一致性评价指标S‑cons，对光场alpha图中的光场数据空角一致性进行评价：指标S‑cons取值范围在(0‑1)，指标S‑cons越接近1，代表边界区域方差越小，光场数据的空角一致性越好，指标S‑cons越接近0，光场数据的空角一致性越差。通过采用本发明提供的方法，可以实现准确且具有一致性的光场抠图并评估其空角一致性。

技术领域

本发明涉及光学信息处理技术领域，特别是关于一种基于空角一致性光场抠图评价方法及装置。

背景技术

光场描述了光线在自由空间中的分布，光场数据捕获来自各个方向光线的辐射，记录了光线的空间信息和角度信息和强度信息，光场成像可以捕捉更丰富的视觉信息，弥补传统摄影中丢失的角度信息，为场景理解提供了更强的能力，提高了传统计算机视觉问题的性能。

一个4D光场数据可由2D子孔径图像阵列表示，因此逐子孔径图像进行2D图像抠图算法一定程度上可以看作实现了4D光场数据的抠图。逐子孔径图像操作的方法没有考虑不同子孔径图像之间的联系，无法保持光场数据的空角一致性，得到的结果难以满足下游技术与应用的要求。并且光场数据尺寸较大，子孔径图像之间存在大量冗余信息，简单的逐子孔径图像处理存在过多冗余计算，效率过低。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于空角一致性光场抠图评价方法及装置，能够避免抠图过程中光场数据空角一致性的破坏，并减少计算冗余。

为实现上述目的，本发明提供一种基于空角一致性光场抠图评价方法，其包括：

步骤1，提取光场数据的中心子孔径图像；

步骤2，计算光场数据的视差图和光场数据中心子孔径图像alpha图；

步骤3，对中心子孔径图像alpha图进行传播，获取光场alpha图；

步骤4，通过式(1)提供的在空间域获取的空角一致性评价指标S-cons，对光场alpha图中的光场数据空角一致性进行评价：指标S-cons取值范围在(0-1)，指标S-cons越接近1，代表边界区域方差越小，光场数据的空角一致性越好，指标S-cons越接近0，光场数据的空角一致性越差；

式中，N_EPI为光场alpha图的EPI的数量，E_j为对应的第j张EPI，每一张EPI中会有l个边界区域，记为Ω_l，N_l为第j张EPI中Ω_l区域的像素总个数，E_ji为光场alpha图第j张EPI中第i个像素，为第j张EPI中Ω_l边界处像素值的均值。

进一步地，步骤2中的视差图disp(x,y)的计算公式为式(2)：

disp(x,y)＝F/Z(x,y)+F (2)

式中，F为相机的焦距，Z(x,y)为场景的深度图。

进一步地，步骤2中的中心子孔径图像alpha图的获取方法具体包括：

步骤21，将视差图disp(x,y)中任意像素i的置信度q_i设置为式(3)：

式中，p_i为视差图disp(x,y)中任意像素i的视差值，D＝max(disp(x,y))为视差图中的最大值，d＝min(disp(x,y))为视差图中的最小值；