[发明专利]适用于压电谐振器的数据处理方法及装置有效
申请号: | 202210411829.5 | 申请日: | 2022-04-19 |
公开(公告)号: | CN114519215B | 公开(公告)日: | 2022-09-06 |
发明(设计)人: | 张树民;王国浩 | 申请(专利权)人: | 杭州左蓝微电子技术有限公司 |
主分类号: | G06F30/10 | 分类号: | G06F30/10;G06F30/31;G06F30/392 |
代理公司: | 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 33217 | 代理人: | 李磊 |
地址: | 310015 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 适用于 压电 谐振器 数据处理 方法 装置 | ||
1.适用于压电谐振器的数据处理方法,其特征在于,包括:
对用户主动配置的标准设计数据进行存储,为所述标准设计数据添加相对应的设计属性信息;
基于所接收到的横向模抑制系数,对所述标准设计数据进行调整,生成相对应的调整设计数据;
初始化压电谐振器的标准设计数据,所述标准设计数据包括第一叉指尺寸的叉指电极和第一反射尺寸的反射栅;
根据所述第一叉指尺寸和第一反射尺寸分别得到标准假指区域金属化比和标准激励区域金属化比;
接收横向模抑制系数,将所述横向模抑制系数与预设抑制系数比较,得到金属化趋势值;
将接收的横向模抑制系数与预设抑制系数比较,得到第一抑制差值,根据所述第一抑制差值得到金属化趋势值;
若所述金属化趋势值小于等于第一预设值,则按照所述标准设计数据输出标准压电谐振器数据;
若所述金属化趋势值大于第一预设值,则根据所述金属化趋势值对所述标准假指区域金属化比和/或标准激励区域金属化比调整,得到调整假指区域金属化比和/或调整IDT激励区域金属化比;
若所述金属化趋势值大于第一预设值、小于第二预设值,则获取标准假指区域金属化比下第一叉指尺寸中的第一假指宽度信息;
根据所述金属化趋势值对所述第一假指宽度信息进行模拟计算,得到第二假指宽度信息,根据所述第二假指宽度信息对标准假指区域金属化比进行调整,得到调整假指区域金属化比;
获取标准假指区域金属化比中的标准假指间隙信息,根据所述第二假指宽度信息和标准假指间隙信息得到调整假指区域金属化比;
在根据所述金属化比随动值对标准激励区域金属化比调整,得到调整IDT激励区域金属化比的步骤中,具体包括:
获取预先设置的金属化比随动值,根据所述金属化比随动值对标准激励区域金属化比调整,得到调整IDT激励区域金属化比;
获取标准激励区域金属化比中的标准反射栅间隙信息,根据所述调整IDT激励区域金属化比和标准反射栅间隙信息得到调整后的反射栅宽度信息;
若所述调整假指区域金属化比未超过最高假指区域金属化比,则将调整得到的调整假指区域金属化比输出;
根据金属化比随动值对标准激励区域金属化比调整,得到调整IDT激励区域金属化比,将所述调整IDT激励区域金属化比输出;
根据所述调整假指区域金属化比和/或调整IDT激励区域金属化比对标准设计数据调整,得到调整后的调整设计数据,按照所述调整设计数据输出调整压电谐振器数据;
将所述调整设计数据和标准设计数据比对,得到设计变化信息;
获取所述设计属性信息中的标准补偿函数,根据所述设计变化信息和标准补偿函数确定与所述调整设计数据相对应的调整补偿函数;
根据所述调整设计数据和调整补偿函数对预先存的设计信息映射表进行更新,基于更新后的设计信息映射表在数据库中建立相应的存储单元;
将所述调整设计数据和所述调整补偿函数存储于数据库新建立的存储单元内。
2.根据权利要求1所述的适用于压电谐振器的数据处理方法,其特征在于,还包括:
接收用户的数值调整数据,所述数值调整数据包括对所计算的第二假指宽度信息进行调整后的第二假指宽度信息;
根据所述调整后的第二假指宽度信息对标准假指区域金属化比进行调整,得到调整假指区域金属化比;
将调整后的第二假指宽度信息与调整前的第二假指宽度信息比对,得到调整系数信息;
若所述调整系数信息大于0,则对用于计算第二假指宽度信息的第一调整权重,结合正向调整系数进行正向调整,得到正向调整后的调整系数信息;
若所述调整系数信息小于0,则对用于计算第二假指宽度信息的第一调整权重,结合负向调整系数进行负向调整,得到负向调整后的调整系数信息。
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