[发明专利]一种产品的可靠性评价方法、可读存储介质和电子设备在审

专利信息
申请号: 202210412499.1 申请日: 2022-04-19
公开(公告)号: CN114692087A 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 郭超;黄洪钟;邓智铭;童辉;刁庆;李彦锋;余奥迪;米金华;史慧楠;汪邦军;于爽;吴强;海洋;柳思源 申请(专利权)人: 中国航空发动机研究院
主分类号: G06F17/18 分类号: G06F17/18;G06Q10/06
代理公司: 北京鼎承知识产权代理有限公司 11551 代理人: 夏华栋;顾可嘉
地址: 101304*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 产品 可靠性 评价 方法 可读 存储 介质 电子设备
【权利要求书】:

1.一种产品的可靠性评价方法,其特征在于,包括:

基于产品的多个实验样本对应的寿命数据,获得产品累积失效函数;

基于产品累积失效函数的凹凸性,获得实验样本多个时刻中每一时刻的累积失效率;

基于所述实验样本每一时刻的累积失效率,使用参数估计方法,获得产品寿命分布的参数值,并以此预测产品的可靠寿命或可靠度。

2.如权利要求1所述的产品的可靠性评价方法,其特征在于,产品的寿命数据,通过以下方法获得:

基于产品的多个实验样本的实验数据,获得多个实验样本对应的寿命数据;

当寿命数据少于预设数量时,对实验样本以及对应的寿命数据的数量进行扩充。

3.如权利要求2所述的产品的可靠性评价方法,其特征在于:采用灰自助模型对寿命数据的数量进行扩充。

4.如权利要求3所述的产品的可靠性评价方法,其特征在于:所述实验数据包括实验时间、失效个数以及每个实验时间下输入的样本总量。

5.如权利要求1所述的产品的可靠性评价方法,其特征在于,基于产品累积失效函数的凹凸性,获得实验样本每一时刻的累积失效率,包括:

通过产品工作至最终时刻失效概率的分布和产品累积失效函数的凹凸性,对每个所述实验样本达到实验终止时间时的失效概率进行估计,获得每个所述实验样本每一时刻的累积失效概率的先验分布;

基于每个所述累积失效概率的先验分布,获得每个所述实验样本达到实验终止时间时的累积失效概率的后验分布;

基于每个所述累积失效概率的后验分布,获得每个失效产品时间累积失效概率的期望值,并以此获得每个所述实验样本每一时刻的累积失效率。

6.如权利要求5所述的产品的可靠性评价方法,其特征在于,所述累积失效概率的先验分布、累积失效概率的后验分布和/或实验样本每一时刻的累积失效率均通过贝叶斯估计模型获得。

7.如权利要求1所述的产品的可靠性评价方法,其特征在于,基于所述每一时刻的累积失效率,使用参数估计方法,获得产品寿命分布的参数值,并以此预测产品的可靠寿命或可靠度,包括;

基于所述实验样本每一时刻的累积失效率的后验估计值,构建产品的损失函数;

基于所述损失函数,获得损失函数最小时的产品寿命的分布参数;

基于所述产品寿命的分布参数获得产品的可靠寿命或可靠度。

8.如权利要求1所述的产品的可靠性评价方法,其特征在于:所述寿命数据是失效数据或无失效数据。

9.一种可读存储介质,其特征在于,其上具有可执行指令,当可执行指令被执行时,使得计算机执行如权利要求1-7任一项所述的产品的可靠性评价方法的步骤。

10.一种电子设备,其特征在于,所述设备包括处理器和存储器,所述存储器中存储有适于所述处理器执行的计算机程序指令,所述计算机程序指令被所述处理器运行时执行如权利要求1-7任一项所述的产品的可靠性评价方法的步骤。

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