[发明专利]一种产品的可靠性评价方法、可读存储介质和电子设备

说明书

一种产品的可靠性评价方法、可读存储介质和电子设备，方法包括：基于产品的多个实验样本对应的寿命数据，获得产品累积失效函数；基于产品累积失效函数的凹凸性，获得实验样本每一时刻的累积失效率；基于所述实验样本每一时刻的累积失效率，使用参数估计方法，获得产品寿命分布的参数值，并以此预测产品的可靠寿命或可靠度。本公开适用于包括小样本在内的多种样本数量的寿命数据的寿命预测与可靠性评估过程，预测结果较为精准。

技术领域

本公开属于可靠性实验评价技术领域，具体涉及一种产品的可靠性评价方法、可读存储介质和电子设备。

背景技术

对于制造企业而言，产品定寿不仅仅是通过理论计算获得的额定寿命，更需要结合实际工况，然而，一些使用环境较为复杂的产品实际寿命数据收集困难，无法得知其具体的失效时间，这也就无法直接使用传统的参数估计方法预测寿命区间。同时，某些产品的产量极小，在产品系统中却十分关键。对于这样一类集小样本、无失效特征为一体的寿命数据进行统计时，如何建立起一种寿命预测与可靠度评估模型，以尽可能准确预测与评估这类产品的寿命与可靠度是十分关键的。

产品的可靠度与寿命预测可以提高产品的维护维修效率，降低产品的使用风险，同时保障使用人员的安全。产品在设计、加工、使用过程中，受到很多不确定性因素的影响，因而，即使严格控制产品可靠性实验的工况，仍然会出现失效时间较为分散的情况，有时甚至无法直接观测到产品是否发生了失效。所以需要处理这样一类产品的实验数据，并建立较为准确的可靠性评估与寿命预测模型。

发明内容

为了解决上述技术问题，本公开的目的在于提供了一种能够处理产品的实验数据，并建立较为准确的可靠性评估与寿命预测模型的产品的可靠性评价方法。

为了实现本公开的目的，本公开所采用的技术方案如下：

一种产品的可靠性评价方法，包括：

基于产品的多个实验样本对应的寿命数据，获得产品累积失效函数；

基于产品累积失效函数的凹凸性，获得实验样本多个时刻中每一时刻的累积失效率；

基于所述实验样本每一时刻的累积失效率，使用参数估计方法，获得产品寿命分布的参数值，并以此预测产品的可靠寿命或可靠度。

可选地，产品的寿命数据，通过以下方法获得：

基于产品的多个实验样本的实验数据，获得多个实验样本对应的寿命数据；

当寿命数据少于预设数量时，对实验样本以及对应的寿命数据的数量进行扩充。

可选地，采用灰自助模型对寿命数据的数量进行扩充。

可选地，所述实验数据包括实验时间、失效个数以及每个实验时间下输入的样本总量。

可选地，基于产品累积失效函数的凹凸性，获得实验样本每一时刻的累积失效率，包括：

通过产品工作至最终时刻失效概率的分布和产品累积失效函数的凹凸性，对每个所述实验样本达到实验终止时间时的失效概率进行估计，获得每个所述实验样本每一时刻的累积失效概率的先验分布；

基于每个所述累积失效概率的先验分布，获得每个所述实验样本达到实验终止时间时的累积失效概率的后验分布；

基于每个所述累积失效概率的后验分布，获得每个失效产品时间累积失效概率的期望值，并以此获得每个所述实验样本每一时刻的累积失效率。

可选地，所述累积失效概率的先验分布、累积失效概率的后验分布和/或实验样本每一时刻的累积失效率均通过贝叶斯估计模型获得。

可选地，基于所述每一时刻的累积失效率，使用参数估计方法，获得产品寿命分布的参数值，并以此预测产品的可靠寿命或可靠度，包括；