[发明专利]一种集成电路芯片模拟量修调方法和装置

权利要求书

1.一种集成电路芯片模拟量修调方法，其特征在于，所述方法包括：

将当前实际模拟量修调档位CurrentPos设置为理论模拟量修调缺省档位DefaultPos，测量所述理论模拟量修调缺省档位DefaultPos对应的第一实际模拟量值RealValue1；

当所述第一实际模拟量值RealValue1与预设的模拟量修调目标值TargetValue不相等时，根据所述第一实际模拟量值RealValue1与预设的模拟量修调目标值TargetValue的大小关系计算第一后续模拟量修调档位Pos2，并根据所述第一后续模拟量修调档位Pos2与预设的理论模拟量修调最大档位MaxPos以及预设的理论模拟量修调最小档位MinPos的关系确定所述当前实际模拟量修调档位CurrentPos的设置档位；

当所述第一实际模拟量值RealValue1与预设的模拟量修调目标值TargetValue相等时，直接将所述理论模拟量修调缺省档位DefaultPos确定为所述当前实际模拟量修调档位CurrentPos的设置档位。

2.根据权利要求1所述的集成电路芯片模拟量修调方法，其特征在于，所述根据所述第一实际模拟量值RealValue1与预设的模拟量修调目标值TargetValue的大小关系计算第一后续模拟量修调档位Pos2，包括：

当RealValue1TargetValue时，

Pos2＝DefaultPos-(RealValue1–TargetValue)/RspStepValue；

当RealValue1TargetValue时，

Pos2＝DefaultPos+(RealValue1–TargetValue)/RspStepValue；

其中，RspStepValue为理论档位间步进值。

3.根据权利要求1所述的集成电路芯片模拟量修调方法，其特征在于，所述根据所述第一后续模拟量修调档位Pos2与预设的理论模拟量修调最大档位MaxPos以及预设的理论模拟量修调最小档位MinPos的关系确定所述当前实际模拟量修调档位CurrentPos的设置档位，包括：

当RealValue1TargetValue时，如果Pos2≤MinPos，将所述理论模拟量修调最小档位MinPos作为所述当前实际模拟量修调档位CurrentPos的设置档位；

当RealValue1TargetValue时，如果Pos2≥MaxPos，将所述理论模拟量修调最大档位MaxPos作为所述当前实际模拟量修调档位CurrentPos的设置档位；

当RealValue1TargetValue时，如果Pos2MinPos，或者当RealValue1TargetValue时，如果Pos2MinPos，将计算出的所述第一后续模拟量修调档位Pos2作为所述当前实际模拟量修调档位CurrentPos的设置档位；并测量所述第一后续模拟量修调档位Pos2对应的第二实际模拟量值RealValue2；根据所述第二实际模拟量值RealValue2计算实际档位间步进值RealStepValue以及第二后续模拟量修调档位Pos3；当所述第二实际模拟量值RealValue2与所述模拟量修调目标值TargetValue不相等时，根据所述第二后续模拟量修调档位Pos3与所述理论模拟量修调最大档位MaxPos以及所述理论模拟量修调最小档位MinPos的关系确定所述当前实际模拟量修调档位CurrentPos的设置档位；当所述第二实际模拟量值RealValue2与所述模拟量修调目标值TargetValue相等时，直接将所述第一后续模拟量修调档位Pos2确定为所述当前实际模拟量修调档位CurrentPos的设置档位。