[发明专利]基于脑磁图检测精神病高危综合征异常神经振荡的方法、装置、处理器及其存储介质在审
申请号: | 202210423451.0 | 申请日: | 2022-04-21 |
公开(公告)号: | CN114903486A | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
发明(设计)人: | 胡业刚;王继军;张天宏;巫珺;赵远桥;唐晓晨;唐莺莹 | 申请(专利权)人: | 上海市精神卫生中心(上海市心理咨询培训中心) |
主分类号: | A61B5/245 | 分类号: | A61B5/245 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 王洁;郑暄 |
地址: | 200030 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 脑磁图 检测 精神病 高危 综合征 异常 神经 振荡 方法 装置 处理器 及其 存储 介质 | ||
1.一种基于脑磁图检测精神病高危综合征异常神经振荡的方法,其特征在于,所述的方法包括以下步骤:
(1)采用前驱综合征结构化访谈量表,以面对面访谈的形式对受试者进行精神病高危综合征评估;
(2)根据评估结果获取对应的精神病高危人群的脑磁图数据,并对其进行数据预处理,用于提高脑磁图信号的质量;
(3)对经过预处理后的所述的脑磁图数据进行时频分析,获取精神病高危人群的神经振荡异常频段;
(4)对所述的神经振荡异常频段进行脑磁图源定位处理,以获得最终的脑磁图检测结果。
2.根据权利要求1所述的基于脑磁图检测精神病高危综合征异常神经振荡的方法,其特征在于,所述的步骤(1)具体为:
(1.1)采用前驱综合征结构化访谈量表,通过面对面访谈的形式确定所述的受试者是否符合临床高危状态标准,如果符合,则进入步骤(1.2),否则,不进行评估处理;
(1.2)对当前所述的受试者进行精神病高危综合征评估处理。
3.根据权利要求2所述的基于脑磁图检测精神病高危综合征异常神经振荡的方法,其特征在于,所述的精神病高危综合征评估处理将进行四种症状的评估,包括:
阳性症状,采用SIPS量表P1-P5类别进行评估;
阴性症状,采用SIPS量表N1-N6类别进行评估;
解体症状,采用SIPS量表D1-D4类别进行评估;以及
一般性症状,采用SIPS量表G1-G4类别进行评估。
4.根据权利要求2所述的基于脑磁图检测精神病高危综合征异常神经振荡的方法,其特征在于,所述的步骤(2)具体为:
(2.1)根据评估结果,获取连续的脑磁图闭眼静息态数据,并按照预设时间间隔进行分段处理;
(2.2)使用0.5-60Hz的带通滤波器和50Hz的去工频滤波对经过分段处理后的信号进行滤波处理;
(2.3)并采用独立成分分析,去除滤波信号中的眼动伪迹和心电伪迹。
5.根据权利要求4所述的基于脑磁图检测精神病高危综合征异常神经振荡的方法,其特征在于,所述的步骤(3)具体为:
(3.1)采用基于汉宁窗的多窗谱分析时频变换,对高危综合征和健康人群进行对比时频分析,同时对能量谱的值进行归一化处理,并设置相同的呈现阈值;
(3.2)通过对比两组的时频分析结果,获得精神病高危人群的神经振荡异常频段。
6.根据权利要求5所述的基于脑磁图检测精神病高危综合征异常神经振荡的方法,其特征在于,所述的步骤(4)具体为:
(4.1)根据获取到的神经振荡异常频段,进行受试者个体头模型创建;
(4.2)采用边界元方法对所述的个体头模型进行正问题求解,所述的边界元方法具体为:
计算非均匀导体中电流源的电势V=TV0,其中T为转移矩阵,V0为电位向量,表示形式为:
其中第i个网格点位置ri、rj位置处的偶极子电流为Cj,传导率为α;
(4.3)对所述的个体头模型进行反问题求解,并通过精确低分辨率脑电磁层析成像进行估计处理;
(4.4)根据处理结果,进行最终的脑磁图源的绘制和显示。
7.根据权利要求6所述的基于脑磁图检测精神病高危综合征异常神经振荡的方法,其特征在于,所述的步骤(4.1)具体为:
(4.1.1)读取受试者的个体MRI核磁共振成像中的T1图像数据;
(4.1.2)体素分割,将所述的个体MRI核磁共振成像与脑磁图坐标系配准,三维重建头模,并应用参数为5毫米的空间间隔对所述的三维重建头模进行体素分割;
(4.1.3)头模型创建,应用半真实头部模型,从受试者所述的个体MRI核磁共振成像中提取出外部大脑表面,在分割解剖所述的MRI核磁共振成像后,通过顶点和三角形的形式描述大脑表面,计算出单壳头模型。
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