[发明专利]一种芯片检测用测试装置

权利要求书

1.一种芯片检测用测试装置，包括支撑底座(1)，其特征在于：所述支撑底座(1)的顶部两侧均固定安装有连接板(2)，所述连接板(2)的顶部固定加设有密封盖板(3)，所述密封盖板(3)的顶部两侧均固定安装有电动推杆装置(4)，所述电动推杆装置(4)的底部伸缩端均安装有第一伸缩连接杆(5)，所述两组连接板(2)之间的上部活动安装有升降板(6)，所述升降板(6)的顶部中心位置固定安装有第一液压气缸(7)，所述第一液压气缸(7)的底部中心位置活动端安装有第一活塞杆(8)，所述升降板(6)的底部中心位置两侧均固定安装有第二伸缩连接杆(9)，所述第二伸缩连接杆(9)的底端固定安装有压力板(10)，所述压力板(10)的底部中心位置两侧均固定安装有定位杆(11)，所述压力板(10)的底部中心位置固定安装有检测头(12)，所述支撑底座(1)的顶部中心位置固定安装有检测台(13)，所述检测台(13)的顶部四周均开设有定位孔(14)，所述检测台(13)的顶部中心位置开设有凹槽，所述支撑底座(1)的顶部横向安装有传动带(15)，所述支撑底座(1)的内腔中心位置固定安装有第二液压气泵(16)，所述第二液压气泵(16)的顶部中心位置伸缩端安装有第二活塞杆(17)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片检测用测试装置，其特征在于：所述传动带(15)的顶部外表面均横向开设有放置槽(18)，所述放置槽(18)的两侧均固定安装有卡板(19)，且传动带(15)的底部与检测台(13)的顶部相贴合，所述检测台(13)顶部的凹槽与放置槽(18)的大小位置关系相一致。

3.根据权利要求1所述的一种芯片检测用测试装置，其特征在于：所述支撑底座(1)的背板一侧固定安装有驱动电机(20)，且驱动电机(20)的旋转端与传动带(15)的转动端之间进行连接。

4.根据权利要求1所述的一种芯片检测用测试装置，其特征在于：所述两组连接板(2)一侧均开设有限位槽，所述升降板(6)的两侧均固定安装有限位杆，且限位杆的一端均延伸进限位槽的内部。

5.根据权利要求1所述的一种芯片检测用测试装置，其特征在于：所述第一伸缩连接杆(5)的底端均贯穿密封盖板(3)的外壁向下延伸，并活动连接于升降板(6)的顶部中心位置两侧。

6.根据权利要求1所述的一种芯片检测用测试装置，其特征在于：所述第一活塞杆(8)的底端贯穿升降板(6)的外壁向下延伸，并固定安装于压力板(10)的顶部中心位置。

7.根据权利要求1所述的一种芯片检测用测试装置，其特征在于：所述检测台(13)顶部凹槽的底部活动加设有活动块(21)，且第二活塞杆(17)的顶端贯穿支撑底座(1)与检测台(13)的外壁向上延伸，并连接于活动块(21)的底部中心位置。