[发明专利]一种在线晶圆检测装置和控制系统在审
申请号: | 202210448344.3 | 申请日: | 2022-04-26 |
公开(公告)号: | CN114812451A | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 楚磊;何炜颖 | 申请(专利权)人: | 安徽富乐德长江半导体材料股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30;G01N21/95 |
代理公司: | 铜陵市天成专利事务所(普通合伙) 34105 | 代理人: | 李坤 |
地址: | 244000*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 在线 检测 装置 控制系统 | ||
1.一种在线晶圆检测装置和控制系统,该装置包括视觉检测工位,其特征是:所述的视觉检测工位包括支架(6)、投屏(4)和工业相机(5),所述支架(6)从上往下分别设有光源(1)、半透半反镜(2)和承片台(3),所述投屏(4)设置在支架(6)一侧,工业相机(5)设置在投屏(4)后方;所述的控制系统包括图像采集系统、图像处理系统和动作执行机构;
所述图像采集系统包括光源(1)、半透半反镜(2)、承片台(3)、投屏(4)和工业相机(5)。
2.根据权利要求1所述的一种在线晶圆检测装置和控制系统,其特征是:所述控制系统工作步骤如下:
通过机械手吸盘将晶片放置在承片台(3)上,光线穿过半透半反镜(2)照射在晶片表面后,再反射和散射到半透半反镜(2),最后投射到投屏(4),工业相机(5)采集图像,再经过处理,扫描整幅图像,找到图像散射光带长轴所在的方向和位置,并将长轴倾斜的图像旋转至水平位置,最后对比标准值得出晶片的是否合格,将数据传送给分类器。
3.根据权利要求1所述的一种在线晶圆检测装置和控制系统,其特征是:图像处理系统是经过二位高斯低通滤波器消除杂音后,扫描整幅图像,找到图像散射光带长轴所在的方向和位置的方法是:滤波后的图像,在每个竖直方向的像素点系列中,长轴所在的点灰度值最大,因此逐一扫描图像中的每个竖直序列,寻找到灰度值最大的点所在的位置,即可确定长轴方向。
4.根据权利要求1所述的一种在线晶圆检测装置和控制系统,其特征是:所述动作执行机构是基于MGSA-SVM算法的分类器。
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