[发明专利]制冷设备控制方法、装置、制冷设备及存储介质在审
申请号: | 202210454116.7 | 申请日: | 2022-04-27 |
公开(公告)号: | CN114739107A | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 王海娟;白莹;张艳凌;李闪闪;周林芳;周思健;魏建 | 申请(专利权)人: | TCL家用电器(合肥)有限公司 |
主分类号: | F25D29/00 | 分类号: | F25D29/00 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 陈丹 |
地址: | 230601 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制冷 设备 控制 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种制冷设备控制方法,其特征在于,应用于制冷设备,所述制冷设备包括冷冻室、重量检测模块、温度检测模块和磁场发生装置;所述方法包括:
控制所述重量检测模块获取放置于所述冷冻室的食品的重量;
控制所述温度检测模块获取所述冷冻室内的温度;
建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型,并根据所述模型预测所述冰晶在预设时长后的冰晶当量直径;
根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场。
2.根据权利要求1所述的制冷设备控制方法,其特征在于,所述建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型之前,还包括:
确定放置于所述冷冻室内的食品的类别;
所述建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型,包括:
建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述类别、所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型。
3.根据权利要求1所述的制冷设备控制方法,其特征在于,所述根据所述模型预测所述冰晶在预设时长后的冰晶当量直径之后,还包括:
获取用户在所述预设时长内打开所述冷冻室的时长以及冷冻室内外温差;
根据所述时长和所述温差对所述冰晶当量直径进行补偿;
所述根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场,包括:
根据补偿后的所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场。
4.根据权利要求1所述的制冷设备控制方法,其特征在于,所述根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场,包括:
在所述冰晶当量直径符合直径阈值范围时,关闭所述磁场发生装置;
在所述冰晶当量直径不符合直径阈值范围时,控制所述磁场发生装置产生磁场。
5.根据权利要求4所述的制冷设备控制方法,其特征在于,所述在所述冰晶当量直径不符合直径阈值范围时,控制所述磁场发生装置产生磁场,包括:
在所述冰晶当量直径处于第一范围时,控制所述磁场发生装置产生的磁场的强度处于第一磁场强度范围;
在所述冰晶当量直径处于第二范围时,控制所述磁场发生装置产生的磁场的强度处于第二磁场强度范围;其中,
所述第一范围大于所述第二范围,所述第一磁场强度范围大于所述第二磁场强度范围。
6.根据权利要求1所述的制冷设备控制方法,其特征在于,所述根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场,包括:
根据所述冰晶当量直径通过调节所述磁场发生装置产生的磁场的通断比、调整流过磁场发生装置的线圈的电流值或者改变所述线圈的匝数来控制所述磁场发生装置的磁场强度。
7.一种制冷设备控制装置,其特征在于,应用于制冷设备,所述制冷设备包括冷冻室、重量检测模块、温度检测模块和磁场发生装置;所述装置包括:
重量确定模块,用于控制所述重量检测模块获取放置于所述冷冻室的食品的重量;
温度确定模块,用于控制所述温度检测模块获取所述冷冻室内的温度;
模型建立模块,用于建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型,并根据所述模型预测所述冰晶在预设时长后的冰晶当量直径;及
磁场控制模块,用于根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场。
8.根据权利要求7所述的制冷设备控制装置,其特征在于,所述装置还包括:
类别检测模块,用于确定放置于所述冷冻室内的食品的类别;
所述模型建立模块还用于:
建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述类别、所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型。
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