[发明专利]制冷设备控制方法、装置、制冷设备及存储介质

说明书

本申请提供一种制冷设备控制方法、装置、制冷设备及存储介质，方法包括：控制重量检测模块获取放置于冷冻室的食品的重量；控制温度检测模块获取冷冻室内的温度；建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与重量、温度及食品的储藏时长的模型，并根据模型预测冰晶在预设时长后的冰晶当量直径；根据冰晶当量直径控制磁场发生装置产生的磁场。基于此，制冷设备控制方法根据模型来预设冰晶成核后的大小，冰晶大小的预测方式更简单，更利于操作。

技术领域

本申请涉及家用电器技术领域，具体涉及一种制冷设备控制方法、装置、制冷设备及存储介质。

背景技术

食品在冰箱、冰柜等制冷设备中冷冻储藏的过程中会产生冰晶，冰晶会刺破食品的细胞而导致营养物质的流失。

相关技术中，往往通过光学显微镜、电子显微镜、X射线等方式观察冰晶的大小。但是，相关技术观察冰晶大小的方法操作复杂，不易观察，制冷设备并不能灵活地控制冰晶的大小，从而导致食品的营养物质流失。

发明内容

本申请提供一种制冷设备控制方法、装置、制冷设备及存储介质，该制冷设备控制方法能够预测冰晶的大小，冷设备控制方法的操作更简单。

第一方面，本申请提供一种制冷设备控制方法，应用于制冷设备，所述制冷设备包括冷冻室、重量检测模块、温度检测模块和磁场发生装置；所述方法包括：

控制所述重量检测模块获取放置于所述冷冻室的食品的重量；

控制所述温度检测模块获取所述冷冻室内的温度；

建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型，并根据所述模型预测所述冰晶在预设时长后的冰晶当量直径；

根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场。

在一些实施例中，所述建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型之前，还包括：

确定放置于所述冷冻室内的食品的类别；

所述建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型，包括：

建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述类别、所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型。

在一些实施例中，所述根据所述模型预测所述冰晶在预设时长后的冰晶当量直径之后，还包括：

获取用户在所述预设时长内打开所述冷冻室的时长以及冷冻室内外温差；

根据所述时长和所述温差对所述冰晶当量直径进行补偿；

所述根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场，包括：

根据补偿后的所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场。

在一些实施例中，所述根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场，包括：

在所述冰晶当量直径符合直径阈值范围时，关闭所述磁场发生装置；

在所述冰晶当量直径不符合直径阈值范围时，控制所述磁场发生装置产生磁场。

在一些实施例中，所述在所述冰晶当量直径不符合直径阈值范围时，控制所述磁场发生装置产生磁场，包括：

在所述冰晶当量直径处于第一范围时，控制所述磁场发生装置产生的磁场的强度处于第一磁场强度范围；

在所述冰晶当量直径处于第二范围时，控制所述磁场发生装置产生的磁场的强度处于第二磁场强度范围；其中，