[发明专利]NVME SSD常温下进行Endurance RDT测试的方法、系统、设备及介质

说明书

本发明涉及固态硬盘测试领域，公开了一种NVME SSD常温下进行Endurance RDT测试的方法、系统、设备及介质。所述方法包括：根据MI协议建立服务器的BMC与NVME SSD的通信，并且按照设定的频率依次从所述NVME SSD获取NAND温度值；计算所述BMC按照设定的频率依次获取的NAND温度值与所述NVME SSD进行Endurance RDT测试的需求温度值的温度偏差值；设定温度偏差阈值，并且根据所述温度偏差值与所述温度偏差阈值的大小关系选择对应的温度控制器；通过所述温度控制器控制所述BMC对风扇转速进行调节，实现所述NVME SSD的NAND温度值靠近所述需求温度值。本公开的方法有利于实现NVME SSD在常温环境下进行Endurance RDT测试，而不需要依赖温箱的环境。

技术领域

本发明涉及固态硬盘测试领域，尤其涉及一种NVME SSD常温下进行EnduranceRDT测试的方法、系统、设备及介质。

背景技术

NVME SSD(Non-Volatile Memory Express Solid State Drive)依据JEDEC 218标准计算得出进行Endurance RDT(Endurance Reliability Demonstration Tests)测试，所需要的盘数量和盘NAND的温度所要达到的需求温度值，之后依据运行标准中规定的workload满足特定的时长。Endurance RDT测试通过的标准是当所有盘从测试开始至测试结束的整个生命周期，data error数不大于27，Function failure数小于1。

在现有技术中，为了缩短整个测试的时长，通常会将盘NAND所要达到的需求温度值进行提高，所以一般会将进行测试放在温箱中进行。将测试在温箱中进行不仅成本较高，所有盘的NAND温度很难统一，而且经常会出现在高温的测试环境下挂掉的情况，会影响到NVME SSD的Endurance RDT测试的质量和测试的进度。

发明内容

有鉴于此，本发明提出了一种NVME SSD常温下进行Endurance RDT测试的方法、系统、设备及介质。其中，目前NVME SSD的Endurance RDT测试多数在服务器环境下进行，服务器的BMC(Baseboard Management Controller)不仅可以通过MI(NVM Express ManagementInterface)协议获取到NVME SSD的NAND温度，而且可以控制服务器的风扇转速。因此，本发明提出的一种NVME SSD常温下进行Endurance RDT测试的方法，通过服务器的BMC获取NVMESSD的NAND温度值，设定BMC从NVME SSD获取NAND温度值的频率，在整个测试周期内按照所述频率依次获取对应时间的NAND温度值。在BMC每次获取到NAND温度值时，根据获取到的NAND温度值与需求温度值的大小关系，选择对应的温度控制器，所述温度控制器通过BMC对风扇转速进行调节，使NVME SSD的NAND温度靠近需求温度值。在整个测试周期内，整个温度调节的过程按照设定的BMC从NVME SSD获取NAND温度值的频率依次循环进行，最终使所述NVME SSD的NAND温度值保持在需求温度值的允许偏差范围内，进而实现NVME SSD在常温服务器环境下完成Endurance RDT测试。

基于以上目的，本发明的实施例的一个方面提供了一种NVME SSD常温下进行Endurance RDT测试的方法，所述方法包括以下步骤：根据MI协议建立服务器的BMC与NVMESSD的通信，并且按照设定的频率依次从所述NVME SSD获取NAND温度值；计算所述BMC按照设定的频率依次获取的NAND温度值与所述NVME SSD进行Endurance RDT测试的需求温度值的温度偏差值；设定温度偏差阈值，并且根据所述温度偏差值与所述温度偏差阈值的大小关系选择对应的温度控制器；通过所述温度控制器控制所述BMC对风扇转速进行调节，实现所述NVME SSD的NAND温度值靠近所述需求温度值。