[发明专利]一种波环阻值测量设备的结构在审

专利信息
申请号: 202210472064.6 申请日: 2022-04-29
公开(公告)号: CN114814362A 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 陈建平;闫朝旭 申请(专利权)人: 苏州启航电子有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 王熙文
地址: 215000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 阻值 测量 设备 结构
【权利要求书】:

1.一种波环阻值测量设备的结构,包括下治具(10)和上治具(20),其特征在于:下治具设有下凹台阶(11),上治具设有与下凹台阶配合的下凸结构(21),下凹台阶的外边缘设有下导电块(13),下凸结构的底部边缘处设有上导电块(23),上导电块和下导电块错位设置,上导电块与上PCB板(24)连接,下导电块与下PCB板(14)连接。

2.如权利要求1所述的一种波环阻值测量设备的结构,其特征在于:下治具(10)上设有下导电块槽(15),下PCB板(14)安装在下治具的底部,下导电块槽内设有与下治具底部连通的下探针孔(16),下探针孔内配合有下探针(160),下探针电连接下导电块(13)和下PCB板。

3.如权利要求1所述的一种波环阻值测量设备的结构,其特征在于:上治具(20)上设有上导电块槽(25),上PCB板(24)安装在上治具的顶部,上导电块槽内设有与上治具顶部连通的上探针孔(26),上探针孔内配合有上探针(260),上探针电连接上导电块和上PCB板。

4.如权利要求1所述的一种波环阻值测量设备的结构,其特征在于:下治具(10)和上治具(20)之间设有盖板(30),盖板阻挡在上导电块(23)和下导电块(13)之间。

5.如权利要求1所述的一种波环阻值测量设备的结构,其特征在于:下治具(10)设置在纵横向调节组件(40)上,上治具(20)设置在升降式组件(50)上。

6.如权利要求5所述的一种波环阻值测量设备的结构,其特征在于:纵横向调节组件(40)设置在纵向位移板(60)上。

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