[发明专利]一种波环阻值测量设备的结构

说明书

本发明公开了一种波环阻值测量设备的结构，包括下治具和上治具，下治具设有下凹台阶，上治具设有与下凹台阶配合的下凸结构，下凹台阶的外边缘设有下导电块，下凸结构的底部边缘处设有上导电块，上导电块和下导电块错位设置，上导电块与上PCB板连接，下导电块与下PCB板连接。上下治具合模，下凸结构的边缘伸入波环中并且作用于内凸点，使内凸点外移，内凸点两侧的折弯处与下导电块接触，与两块PCB板连接的电阻测量仪能够测出波环上相邻点位之间的电阻。

技术领域

本发明涉及手表零件的检测设备，具体涉及手表内导体件电阻的检测设备。

背景技术

手表中的波环，是一种导体，一般为铜制品，用于连接手表内圈的导电端子，该导电端子与手表内环形分布的电子器件连接。如此，该波环能够实现环形分布的各电子器件的电连接，用于实现对各电子器件的供电。被波环连接的相邻两个导电端子之间具有一定的电阻值，该电阻值主要决定于与该两个导电端子连接的波环两点之间的阻值。因此，需要对波环上与导电端子连接的各点之间的电阻值进行测量，以判断阻值是否达标。

发明内容

本发明所解决的技术问题：提供一种用于测量波环电阻值的设备结构。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：一种波环阻值测量设备的结构，包括下治具和上治具，下治具设有下凹台阶，上治具设有与下凹台阶配合的下凸结构，下凹台阶的外边缘设有下导电块，下凸结构的底部边缘处设有上导电块，上导电块和下导电块错位设置，上导电块与上PCB板连接，下导电块与下PCB板连接。

被测量的波环放置在下凹台阶上，此时，波环与下导电块无接触。上治具下降在下治具上，下凸结构与下凹台阶配合，下凸结构抵压在下凹台阶上，由于波环具有若干内凸点，因此，下凸结构的边缘伸入波环中并且作用于内凸点，使内凸点外移，内凸点两侧的折弯处与下导电块接触。由于上导电块和下导电块错位设置，因此，上导电块与波环的接触点错位于下导电块与波环的接触点，具体地，以波环上一个内凸点为例，上导电块与内凸点接触，而下导电块与内凸点两侧的外部折弯处接触。

上导电块与上PCB板连接，下导电块与下PCB板连接，两块PCB板与电阻测量仪连接，用于测量相邻上导电块与下导电块之间的电阻，即能测出与相邻上导电块、下导电块接触的波环上相邻两点之间的电阻。

本发明提供了一种用于测量波环电阻值的设备结构，为波环电阻的测量提供了硬件条件，进而为波环是否合格的判断提供条件。

附图说明

下面结合附图对本发明做进一步的说明：

图1为波环阻值测量设备的结构的示意图；

图2为从后方观察波环阻值测量设备的结构所得的示意图；

图3为从下方观察波环阻值测量设备的结构所得的示意图；

图4为下治具10的示意图；

图5为下治具上放置盖板后的示意图；

图6为图5中从下方观察所得的示意图；

图7为下治具的爆炸图；

图8为上治具的示意图；

图9为从下方观察上治具所得的示意图；

图10为上治具的爆炸图；

图11为上治具本体的示意图；

图12为从下方观察上治具本体所得的示意图；

图13为波环90的示意图。

图中符号说明：

10、下治具；11、下凹台阶；13、下导电块；14、下PCB板；15、下导电块槽；16、下探针孔；160、下探针；17、连接件；