[发明专利]一种抬头显示测量系统的校准装置及校准方法

权利要求书

1.一种抬头显示测量系统的校准装置，其特征在于，包括：激光器、以及依次设置的透反镜、第一反射镜和标定板，所述第一反射镜与所述标定板贴合，所述激光器出射的激光束经所述透反镜反射后垂直入射所述第一反射镜，经所述第一反射镜反射后的所述激光束由所述透反镜出射至待校准的相机。

2.根据权利要求1所述的抬头显示测量系统的校准装置，其特征在于，还包括位于所述透反镜和所述标定板之间的基准板和与所述基准板贴合的第二反射镜，所述激光器出射的激光束经所述透反镜反射后垂直入射所述第二反射镜。

3.根据权利要求1所述的抬头显示测量系统的校准装置，其特征在于，所述激光器的出光方向与所述透反镜的透反面之间的夹角为45°。

4.根据权利要求2所述的抬头显示测量系统的校准装置，其特征在于，所述透反镜为分光棱镜或半透半反镜，所述第一反射镜和所述第二反射镜为平面反射镜。

5.一种抬头显示测量系统的校准方法，其特征在于，所述方法包括：

提供激光器、透反镜、第一反射镜和标定板，其中，所述透反镜、所述第一反射镜和所述标定板依次设置，所述第一反射镜与所述标定板贴合；

将所述标定板置于理论虚像位置；

将相机置于观测平面，调整所述相机在所述观测平面内的位置以使所述激光器出射的激光束经由所述标定板反射后透过所述透反镜并入射所述相机的镜头中心；

调整所述相机的角度，使所述标定板的中心重合于所述相机拍摄所述标定板得到的画面中心。

6.根据权利要求5所述的抬头显示测量系统的校准方法，其特征在于，所述将所述标定板置于理论虚像位置之前，所述方法还包括：

提供基准板和第二反射镜，其中，所述第二反射镜与所述基准板的表面贴合；

调整所述激光器的角度，使所述激光器出射的激光束经所述透反镜反射后垂直入射所述第二反射镜。

7.根据权利要求6所述的抬头显示测量系统的校准方法，其特征在于，所述调整所述激光器的角度，使所述激光器出射的激光束经所述透反镜反射后垂直入射所述第二反射镜之后，所述方法还包括：

调整所述标定板的角度，使所述标定板与所述基准板平行。

8.根据权利要求6所述的抬头显示测量系统的校准方法，其特征在于，所述调整所述激光器的角度，使所述激光器出射的激光束经所述透反镜反射后垂直入射所述第二反射镜之后，所述方法还包括：

调整所述标定板的角度，使所述激光器发射的激光束依次经所述透反镜和所述第一反射镜的反射后由所述激光器的出光孔入射。

9.根据权利要求7或8所述的抬头显示测量系统的校准方法，其特征在于，所述透反镜的透反面、所述第一反射镜和所述标定板的中心位于同一基准线上，所述基准线穿过所述理论虚像的中心，所述激光束射至所述透反面的中心，所述标定板绕其中心摆动以调整所述标定板的角度。

10.根据权利要求6所述的抬头显示测量系统的校准方法，其特征在于，所述透反镜为分光棱镜或半透半反镜，所述第一反射镜和所述第二反射镜为平面反射镜。