[发明专利]荧光分析系统及方法在审

专利信息
申请号: 202210478200.2 申请日: 2022-04-29
公开(公告)号: CN114894758A 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 权泽卫;李茜;徐斌;韩江;张海 申请(专利权)人: 南方科技大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 高川
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 荧光 分析 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种荧光分析系统,其特征在于,所述荧光分析系统包括:激光驱动模块、集成聚焦模块、高压模块、荧光分析模块,所述集成聚焦模块分别与所述激光驱动模块、所述高压模块以及所述荧光分析模块连接;

所述激光驱动模块,用于接收测试指令,根据所述测试指令生成测试激光,并将所述测试激光发射至所述集成聚焦模块;

所述高压模块,用于接收所述测试指令,根据所述测试指令确定待测压强,并基于所述待测压强对所述待测样品的施加压强;

所述集成聚焦模块,用于接收所述测试激光,将所述测试激光投射至所述高压模块,以使所述高压模块中的所述待测样品散发荧光;

所述集成聚焦模块,还用于采集所述待测样品散发的荧光,并将所述荧光发送至所述荧光分析模块;

所述荧光分析模块,用于接收所述荧光,获取所述荧光对应的光谱信息,并根据所述光谱信息对所述待测样品的荧光进行分析。

2.如权利要求1所述的荧光分析系统,其特征在于,所述集成聚焦模块包括激光输入单元、荧光输出单元和激光输出单元,所述激光输入单元分别与所述荧光输出单元和所述激光输出单元连接;

所述荧光输出单元与所述荧光分析模块连接,所述激光输入单元与所述激光驱动模块连接,所述激光输出单元与所述高压模块连接;

所述激光驱动模块,还用于接收测试指令,根据所述测试指令生成测试激光,并将所述测试激光发射至所述激光输入单元;

所述激光输入单元,用于接收所述测试激光,将所述测试激光发射至所述激光输出单元;

所述激光输出单元,用于接收所述测试激光,将所述测试激光投射至所述高压模块,以使所述高压模块中的所述待测样品散发荧光;

所述激光输出单元,还用于采集所述待测样品散发的荧光,并将所述荧光发送至所述荧光输出单元;

所述荧光输出单元,用于接收所述荧光,将所述荧光发送至所述荧光分析模块。

3.如权利要求2所述的荧光分析系统,其特征在于,所述荧光分析模块包括标压单元、光栅单元、光谱单元以及分析单元;

所述标压单元的一端与所述荧光输出单元连接,所述标压单元的另一端与所述分析单元连接,所述光谱单元的一端与所述荧光输出单元连接,所述光谱单元的另一端与所述分析单元连接;

所述光栅单元包括入口光栅、探测器、出口光栅和单光子计数器,所述入口光栅的一端与所述荧光输出单元连接,所述入口光栅的另一端与所述探测器的一端连接,所述探测器的另一端与所述出口光栅的一端连接,所述出口光栅的另一端与所述单光子计数器的一端连接,所述单光子计数器的另一端与所述分析单元连接。

4.如权利要求1至3中任一项所述的荧光分析系统,其特征在于,所述高压模块包括高压单元、温控单元和升降单元;

所述温控单元和所述升降单元上分别安装有所述高压单元;

所述高压单元,用于接收所述测试指令,根据所述测试指令确定待测压强,并基于所述待测压强对所述待测样品的施加压强;

所述温控单元,用于接收所述测试指令,根据所述测试指令确定待测温度,并将所述高压单元内的待测样品调节至所述待测温度;

所述升降单元,用于接收所述测试指令,根据所述测试指令确定待测高度,并将所述高压单元调节至所述待测高度。

5.如权利要求1至3中任一项所述的荧光分析系统,其特征在于,所述激光驱动模块包括激光驱动单元和光路整合单元,所述光路整合单元的一端与所述激光驱动单元连接,所述光路整合单元的另一端与所述激光输入单元连接;

所述激光驱动单元,用于接收所述测试指令,根据所述测试指令生成测试激光,并将所述测试激光发射至所述光路整合单元;

所述光路整合单元,用于接收所述测试激光,对所述测试激光进行光路整合,并将光路整合后的测试激光发射至所述激光输入单元。

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