[发明专利]荧光分析系统及方法

说明书

本发明涉及光学分析技术领域，公开了一种荧光分析系统及方法。荧光分析系统包括激光驱动模块、集成聚焦模块、高压模块、荧光分析模块，集成聚焦模块分别与激光驱动模块、高压模块以及荧光分析模块连接；由于本发明中的激光驱动模块生成测试激光，并将测试激光发射至集成聚焦模块，高压模块根据测试指令对待测样品施加压强，集成聚焦模块将接收到的激光投射至高压模块，以使高压模块中的待测样品散发荧光，采集荧光，并将荧光发送至荧光分析模块，荧光分析模块根据荧光的光谱信息对待测样品进行荧光分析，从而实现了对待测样品进行不同压强下的荧光分析，提升了荧光分析的效率。

技术领域

本发明涉及光学分析技术领域，尤其涉及一种荧光分析系统及方法。

背景技术

传统荧光测量只能分析常压条件下的荧光和寿命，而现有的压强施加系统与传统的荧光测量系统是单独分开的，因此不利于原位测试，导致荧光分析效率低下，并且分析数据误差较大。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种荧光分析系统及方法，旨在解决现有技术无法进行不同压强下的荧光分析，导致荧光分析效率低的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供了一种荧光分析系统，所述荧光分析系统包括：激光驱动模块、集成聚焦模块、高压模块、荧光分析模块，所述集成聚焦模块分别与所述激光驱动模块、所述高压模块以及所述荧光分析模块连接；

所述激光驱动模块，用于接收测试指令，根据所述测试指令生成测试激光，并将所述测试激光发射至所述集成聚焦模块；

所述高压模块，用于接收所述测试指令，根据所述测试指令确定待测压强，并基于所述待测压强对所述待测样品的施加压强；

所述集成聚焦模块，用于接收所述测试激光，将所述测试激光投射至所述高压模块，以使所述高压模块中的所述待测样品散发荧光；

所述集成聚焦模块，还用于采集所述待测样品散发的荧光，并将所述荧光发送至所述荧光分析模块；

所述荧光分析模块，用于接收所述荧光，获取所述荧光对应的光谱信息，并根据所述光谱信息对所述待测样品的荧光进行分析。

可选地，所述集成聚焦模块包括激光输入单元、荧光输出单元和激光输出单元，所述激光输入单元分别与所述荧光输出单元和所述激光输出单元连接；

所述荧光输出单元与所述荧光分析模块连接，所述激光输入单元与所述激光驱动模块连接，所述激光输出单元与所述高压模块连接；

所述激光驱动模块，还用于接收测试指令，根据所述测试指令生成测试激光，并将所述测试激光发射至所述激光输入单元；

所述激光输入单元，用于接收所述测试激光，将所述测试激光发射至所述激光输出单元；

所述激光输出单元，用于接收所述测试激光，将所述测试激光投射至所述高压模块，以使所述高压模块中的所述待测样品散发荧光；

所述激光输出单元，还用于采集所述待测样品散发的荧光，并将所述荧光发送至所述荧光输出单元；

所述荧光输出单元，用于接收所述荧光，将所述荧光发送至所述荧光分析模块。

可选地，所述荧光分析模块包括标压单元、光栅单元、光谱单元以及分析单元；

所述标压单元的一端与所述荧光输出单元连接，所述标压单元的另一端与所述分析单元连接，所述光谱单元的一端与所述荧光输出单元连接，所述光谱单元的另一端与所述分析单元连接；