[发明专利]一种晶振老化补偿方法、系统、终端设备及存储介质有效
申请号: | 202210482751.6 | 申请日: | 2022-05-05 |
公开(公告)号: | CN114866033B | 公开(公告)日: | 2023-01-13 |
发明(设计)人: | 陈功;刘搏 | 申请(专利权)人: | 深圳市金科泰通信设备有限公司 |
主分类号: | H03B5/04 | 分类号: | H03B5/04;G01R23/02;G01R31/28 |
代理公司: | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人: | 孙中勤 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 老化 补偿 方法 系统 终端设备 存储 介质 | ||
1.一种晶振老化补偿方法,其特征在于,包括以下步骤:
当晶振运行稳定后,基于采样时间和采样次数获取晶振第1天至第N天的频率样本数据,将所有所述频率样本数据作为测试频率数据;
当获取第N+1天的频率样本数据时,基于先进先出原则对所述测试频率数据进行迭代,将第2天至第N+1天的频率样品数据作为测试频率数据,其中,所述N为大于等于2的整数;
基于最小二乘法对所述测试频率数据进行计算,得到日老化率值,基于所述日老化率值获取日老化补偿量;
获取程序运行次数;
基于所述程序运行次数对所述日老化补偿量进行分摊处理,得到小时老化补偿量;
基于所述小时老化补偿量得到分钟老化补偿量;
当N≤100时,基于所述分钟老化补偿量在第N+1天执行晶振的老化补偿操作;
当100<N≤365时,所述分钟老化补偿量为0,停止晶振的老化补偿操作。
2.一种晶振老化补偿系统,其特征在于,包括获取模块(1)、计算模块(2)、优化模块(3)和补偿模块(4),所述计算模块(2)与所述获取模块(1)连接,所述优化模块(3)与所述计算模块(2)连接,所述补偿模块(4)与所述优化模块(3)连接;
所述获取模块(1),用于基于预设频率采样规则获取晶振的测试频率数据;
所述计算模块(2),用于基于最小二乘法对所述测试频率数据进行计算,得到日老化率值,基于所述日老化率值获取日老化补偿量;
所述优化模块(3),用于获取程序运行次数,基于所述程序运行次数对所述日老化补偿量进行优化处理,得到分钟老化补偿量;
所述补偿模块(4),用于基于所述分钟老化补偿量获取分钟补偿电压,基于所述分钟补偿电压执行晶振的老化补偿操作;
所述预设频率采样规则包括采样时间、采样次数以及先进先出原则,所述获取模块(1)包括获取单元(11)和迭代单元(12),所述迭代单元(12)与所述获取单元(11)连接;
所述获取单元(11),用于当晶振运行稳定后,基于所述采样时间和所述采样次数获取晶振第1天至第N天的频率样本数据,将所有所述频率样本数据作为测试频率数据;
所述迭代单元(12),用于当获取第N+1天的频率样本数据时,基于所述先进先出原则对所述测试频率数据进行迭代,将第2天至第N+1天的频率样品数据作为测试频率数据;
其中,所述N为大于等于2的整数;
所述优化模块(3)包括预估单元(31)、小时单元(32)和分钟单元(33),所述小时单元(32)与所述预估单元(31)连接,所述分钟单元(33)与所述小时单元(32)连接;
所述预估单元(31),用于获取程序运行次数;
所述小时单元(32),用于基于所述程序运行次数对所述日老化补偿量进行分摊处理,得到小时老化补偿量;
所述分钟单元(33),用于基于所述小时老化补偿量得到分钟老化补偿量;
当N≤100时,基于所述分钟老化补偿量在第N+1天执行晶振的老化补偿操作;
当100<N≤365时,所述分钟老化补偿量为0,停止晶振的老化补偿操作。
3.一种终端设备,包括存储器、处理器及存储在存储器中并能够在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器加载并执行计算机程序时,采用了权利要求1中所述的方法。
4.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器加载并执行时,采用了权利要求1中所述的方法。
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