[发明专利]一种晶振老化补偿方法、系统、终端设备及存储介质

说明书

本申请涉及一种晶振老化补偿方法、系统、终端设备及存储介质，其方法包括以下步骤：基于预设频率采样规则获取晶振的测试频率数据；基于最小二乘法对所述测试频率数据进行计算，得到日老化率值，基于所述日老化率值获取日老化补偿量；获取程序运行次数，基于所述程序运行次数对所述日老化补偿量进行优化处理，得到分钟老化补偿量；基于所述分钟老化补偿量获取分钟补偿电压，基于所述分钟补偿电压执行晶振的老化补偿操作。本申请具有提高晶振老化补偿的准确性，以使晶振输出准确的频率值的效果。

技术领域

本申请涉及晶振的技术领域，尤其是涉及一种晶振老化补偿方法、系统、终端设备及存储介质。

背景技术

晶振，全称为晶体振荡器，晶振通常有四个管脚和方向，有功率、质量和时钟输出引脚，内含晶体和振荡电路。晶振无需输入信号源，可直接输出频率信号。

晶振在连续的使用过程中，谐振频率受元器件本身的老化影响以及周围的环境和负载能量变化等多方面的影响，晶体的谐振频率通常情况下会随着工作时间的递增，频率会出现单调递增或递增的趋势，把石英晶体的谐振频率随着运行时间的变化的速率称为晶体的老化，也即晶振的老化。

为减少晶振老化带来的影响，需要对晶振进行老化补偿。目前对晶振进行老化补偿的方法为：晶振运行一定时间后，测得晶振的老化率，并根据老化率线性推导补偿量，然后通过人工手动直接调整（通常为一年一次）晶体振荡器的压控端电压进行老化补偿。

然而在实际使用过程中，晶振的老化率是非线性变化的，通过现有技术中的补偿方法直接线性推导，不够准确，可能存在补偿过量的问题，甚至导致晶振状态恶化。

发明内容

为了提高晶振老化补偿的准确性，以使晶振输出准确的频率值，本申请提供一种晶振老化补偿方法、系统、终端设备及存储介质。

第一方面，本申请提供一种晶振老化补偿方法，采用如下的技术方案：

一种晶振老化补偿方法，包括以下步骤：

基于预设频率采样规则获取晶振的测试频率数据；

基于最小二乘法对所述测试频率数据进行计算，得到日老化率值，基于所述日老化率值获取日老化补偿量；

获取程序运行次数，基于所述程序运行次数对所述日老化补偿量进行优化处理，得到分钟老化补偿量；

基于所述分钟老化补偿量获取分钟补偿电压，基于所述分钟补偿电压执行晶振的老化补偿操作。

通过采用上述技术方案，获取待老化补偿晶振近期的测试频率数据来计算日老化率值，比较准确，根据日老化率值得到日老化补偿量，通过进一步计算和优化，将日老化补偿量分摊至分钟老化补偿量，按照分钟老化补偿量来获得分钟补偿电压，最终通过向晶振输出分钟补偿电压，来实现晶振频率值的分钟级的老化补偿，使得补偿过程更加准确和稳定，同时也更加灵活。

可选的，所述预设频率采样规则包括采样时间、采样次数以及先进先出原则，所述基于预设频率采样规则获取晶振的测试频率数据包括以下步骤：

当晶振运行稳定后，基于所述采样时间和所述采样次数获取晶振第1天至第N天的频率样本数据，将所有所述频率样本数据作为测试频率数据；

当获取第N+1天的频率样本数据时，基于所述先进先出原则对所述测试频率数据进行迭代，将第2天至第N+1天的频率样品数据作为测试频率数据；

其中，所述N为大于等于2的整数。

通过采用上述技术方案，迭代获取近期的频率样品数据作为测试频率数据，可以比较准确地推导出日老化补偿量。

可选的，所述基于所述程序运行次数对所述日老化补偿量进行优化处理，得到分钟老化补偿量包括以下步骤：

获取程序运行次数；