[发明专利]基于VB法与VGF法结合的砷化铟单晶生长方法有效
申请号: | 202210496774.2 | 申请日: | 2022-05-09 |
公开(公告)号: | CN115029783B | 公开(公告)日: | 2023-10-03 |
发明(设计)人: | 韩家贤;邱锋;许天;惠峰;韦华;赵兴凯;王顺金;柳廷龙;刘汉保;黄平;何永彬;叶晓达 | 申请(专利权)人: | 云南鑫耀半导体材料有限公司;云南中科鑫圆晶体材料有限公司;云南临沧鑫圆锗业股份有限公司 |
主分类号: | C30B29/40 | 分类号: | C30B29/40;C30B11/00 |
代理公司: | 昆明祥和知识产权代理有限公司 53114 | 代理人: | 和琳 |
地址: | 650000 云南省昆*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 vb vgf 结合 砷化铟单晶 生长 方法 | ||
基于VB法与VGF法结合的砷化铟单晶生长方法,涉及一种VB法与VGF法结合砷化铟晶体生长装置、装料方法以及晶体生长工艺。所述的生长装置,由加热炉体、热场系统、支撑系统、容器系统和坩埚下降装置组成,所述生长方法,包括装料、装炉、化料、接籽晶、放肩、等径生长、冷却退火步骤。所述的装料容器分为上坩埚、下坩埚和石英安瓿瓶,利用锥形料、圆饼料和梯型料合理的搭配设计,不但能使装料结构稳定、还有助于高温时很好的化料,可以有效提高成晶率31%,通过砷化铟多晶的合成、装料、单晶生长获得籽晶胚、籽晶胚加工获得籽晶,再进行单晶生长,最终生长远低于LEC生长的低位错的砷化铟单晶。
技术领域
本发明属于化合物半导体晶体生长领域,特别是一种VB法与VGF法结合生长砷化铟单晶的生长装置、装料工艺及晶体生长方法。
背景技术
砷化铟(InAs)具有较高的电子迁移率和迁移比值(μe/μh=70),是超长波长激光器和探测器的一种理想衬底材料。
砷化铟的熔点942℃,离解压0.33atm,由于熔点和离解压低,目前砷化铟单晶主要采用的生长方法是LEC法,即液封直拉法。这种方法的主要缺点是设备成本较高、生长的晶体应力大、位错密度高、熔体表面的浮渣很容易引起孪生、成晶率只有33%左右,所以不利于生长大尺寸、低位错的晶体。
发明内容
本发明的目的是提供一种VB法与VGF法结合的砷化铟生长装置、装料工艺、籽晶的获取方法和单晶生长工艺。
基于VB法与VGF法结合的砷化铟单晶生长方法,包括装料、装炉、化料、接籽晶、放肩、等径生长、冷却退火步骤,其特征在于:
所述的装料具体是:
PBN下坩埚装料首先将第一锥形料放入PBN下坩埚底部,然后放入2块搭桥梯形料组合成圆柱搭桥结构,然后在搭桥结构的两侧分别放入砷颗粒和三氧化二硼,然后再将圆饼料放在搭桥上面,最后将标准梯形料放在圆饼料上面;
PBN上坩埚的装料首先将第二锥形料放入PBN上坩埚底部,再往上放圆饼料,再将标准梯形料的大面朝下对垒在圆饼料上面,2块标准梯形料料按圆柱的形状对垒在标准梯形料上,旁边再放2块标准梯形料;
所述的等径生长过程中,坩埚下降速度为1.2mm/h进行等径生长收尾。
进一步的,所述的化料分两个阶段,具体是:
第一阶段为升温初步化上坩埚的料:设置各温区的加热温度,第一加热区为860℃、第二加热区为940℃、第三加热区为1029℃、第四加热区为1029℃、第五加热区为1019℃、第六加热区为1019℃;
第二阶段整体化料,加热升温使第一加热区为860℃、第二加热区为988℃、第三加热区为1000℃、第四加热区为1000℃、第五区为1006℃、第六区为1006℃。
进一步的,测温热电偶采用R型热电偶。
本发明采用VB法与VGF法结合的砷化铟晶体生长,不但能生长超低位错的晶体,而且单晶率高、载流子浓度和迁移率等电学参数均匀性远优于LEC法、生长设备简单等大大提高了生长效益。
附图说明
图1是本发明的VB法与VGF法结合快速生长砷化铟单晶的生长装置结构示意图。
图2是本发明的PBN下坩埚装料示意图。
图3是本发明的PBN上坩埚装料示意图。
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