[发明专利]一种坏点的检测方法和装置在审
申请号: | 202210529149.3 | 申请日: | 2022-05-16 |
公开(公告)号: | CN115002364A | 公开(公告)日: | 2022-09-02 |
发明(设计)人: | 陈柏钦 | 申请(专利权)人: | 深圳市宏瀚微电子有限公司 |
主分类号: | H04N5/367 | 分类号: | H04N5/367;H04N5/357;H04N17/00;G06T7/90;G06T7/00 |
代理公司: | 深圳市世纪宏博知识产权代理事务所(普通合伙) 44806 | 代理人: | 赖智威 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙岗区坂田*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 方法 装置 | ||
本发明公开了一种坏点的检测方法,该方法包括:检测前一帧图像中的疑似坏点;根据当前帧图像,利用运动背景判断疑似坏点是否为真实的坏点;把坏点标记值写入已知坏点的存储中,并在下一帧图像中当作静态坏点进行处理;本发明还公开了一种坏点的检测装置,该装置包括检测单元、计算单元和判断单元。本发明通过在前一帧中找出比较突兀的图像强边界,标记为疑似的坏点区域,然后在接下去的一帧中利用前后帧运动图像差值较大,而坏点变化较小的特点,识别出真实的坏点,是一种基于图像内容变化进行实时地坏点检测的方法,大大降低了坏点检测误差,而且能够检测出图像中大块的坏点,并兼顾了节省硬件资源的需求,易于推广应用。
技术领域
本发明涉及图像处理技术领域,具体涉及一种坏点的检测方法和装置。
背景技术
由于半导体制造工艺和原材料的差异,使得制造出来的图像传感器将不可避免的存在一些坏点。所谓坏点,是指不会随着感光度变化,始终呈现同一种亮度的像素点;坏点的存在是图像质量下降的原因之一,因此对坏点进行检测及处理,对于提高成像质量是非常必要的。
目前,现有技术中对图像传感器的坏点进行检测时,通常是设定一个固定的像素阈值,对于不同场景下采集的图像,都通过某一统计量和该像素阈值进行比较来判断像素点是否为坏点,但是,上述坏点检测方法易于造成坏点的漏检和误点,致使检测结果的准确性较低,而且占用硬件资源较大,从而无法满足人们的使用要求。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中易于造成坏点的漏检和误判,致使检测结果的准确性较低的问题,而提出的一种坏点的检测方法和装置。
为了实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:
一种坏点的检测方法,该方法包括:
S1.检测前一帧图像中的疑似坏点;
S2.根据当前帧图像,计算阈值以及疑似坏点两侧两帧之间的像素差值;
S3.判断任意一个像素值是否大于阈值,如果其中一个像素差值大于坏点阈值,则是真实坏点,把坏点标记值写入已知坏点的存储中,并在下一帧RAW图像中当作静态坏点进行处理,否则,执行步骤S2,直至把所有疑似坏点检测完为止。
优选的,所述步骤S1具体包括:
S11.获取前一帧图像中,以当前像素点为中心的N×N大小的像素区块;
S12.计算像素区块内的平均值、最小值、最大值以及差值的平均值,并且计算判断疑似坏点边界差值的阈值;
S13.计算像素区块内所有像素点在不同预设方向上的最小差值;
S14.判断某个预设方向上的最小差值是否大于阈值,如果某个预设方向上的最小差值大于阈值,则表示是可能的坏点边界,并统计边界的数量,并初始化疑似坏点的标记值为a,如果边界的数量为零,则表示当前像素与周围像素差值较小,是一个正常的像素;
如果在某个方向上最邻近的像素是已知的坏点,并且当前像素值与已知坏点的像素值比较接近,则判断定当前像素是疑似的坏点,置标记值为b;
如果当前像素点的像素值接近像素区块内的最大值或最小值,并且坏点边界数量大于预设值,则置标记值为b;
把同一行的标记值保存到内存,同时把当前行的像素存入行缓存,在下一帧时再对该像素进行帧间判定。
优选的,所述步骤S2具体包括:
S21.获取当前帧图像中与前一帧中判断疑似坏点的一行像素相对应的同一行的像素并定义当前像素点为x,以当前像素点x为中心,向左侧延伸M个像素,向右延伸N个像素,组成一个帧间块,以及该帧间在当前行中的左边界xl和右边界xr;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市宏瀚微电子有限公司,未经深圳市宏瀚微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210529149.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。