[发明专利]一种异常区域检测方法、自动光学检测设备以及存储介质

权利要求书

1.一种异常区域检测方法，其特征在于，所述异常区域检测方法包括：

获取在待检测图像中的第一起始点；

基于所述第一起始点按照第一预设尺寸，生成第一重复单元区域；

利用所述第一重复单元区域获取尺寸相同的第一相邻区域，获取所述第一重复单元区域与所述第一相邻区域的第一相似度；

在所述第一相似度大于等于第二相似度阈值的情况下，将所述第一重复单元区域作为符合相似度条件的重复单元区域；

利用所述重复单元区域对包括电路板的待检测图像的所有区域进行遍历匹配，得到所述重复单元区域与每一个区域的相似度；

将相似度小于第一相似度阈值的区域，标记为异常区域。

2.根据权利要求1所述的异常区域检测方法，其特征在于，所述获取所述第一重复单元区域与所述第一相邻区域的第一相似度之后，所述异常区域检测方法还包括：

在所述第一相似度小于等于所述第二相似度阈值的情况下，基于所述第一起始点按照第二预设尺寸，生成第二重复单元区域；

重复执行：利用所述第二重复单元区域获取尺寸相同的第二相邻区域，获取所述第二重复单元区域与所述第二相邻区域的第二相似度，直至获取第二相似度大于等于所述第二相似度阈值的第二重复单元区域，作为符合相似度条件的重复单元区域。

3.根据权利要求1所述的异常区域检测方法，其特征在于，所述获取所述第一重复单元区域与所述第一相邻区域的第一相似度之后，所述异常区域检测方法还包括：

基于所述第一起始点按照第二预设尺寸，生成第二重复单元区域；

利用所述第二重复单元区域获取尺寸相同的第二相邻区域，获取所述第二重复单元区域与所述第二相邻区域的第二相似度；

将所述第一相似度和所述第二相似度中最大的相似度对应的重复单元区域作为符合相似度条件的重复单元区域。

4.根据权利要求3所述的异常区域检测方法，其特征在于，所述获取所述第二重复单元区域与所述第二相邻区域的第二相似度之后，所述异常区域检测方法还包括：

判断所述第一相似度和所述第二相似度是否均大于等于所述第二相似度阈值；

若否，则按照大于等于所述第二相似度阈值的相似度对应的重复单元区域作为符合相似度条件的重复单元区域；

若是，则按照预设尺寸最大的重复单元区域作为符合相似度条件的重复单元区域。

5.根据权利要求1所述的异常区域检测方法，其特征在于，所述获取所述第一重复单元区域与所述第一相邻区域的第一相似度之后，所述异常区域检测方法还包括：

在所述第一相似度小于第三相似度阈值的情况下，选择第二起始点替换所述待检测图像中的第一起始点；

其中，所述第三相似度阈值小于所述第二相似度阈值。

6.根据权利要求1所述的异常区域检测方法，其特征在于，所述将相似度小于第一相似度阈值的区域，标记为异常区域之前，所述异常区域检测方法还包括：

利用所述待检测图像的所有区域坐标以及相似度，建立网格图像；

按照所述网格图像的相似度分布，获取所述网格图像的相似度直方图；

利用所述相似度直方图的分布情况，按照预设阈值算法确定所述第一相似度阈值。

7.根据权利要求1所述的异常区域检测方法，其特征在于，所述异常区域检测方法，包括：

获取待处理图像，并获取所述待处理图像的图像纹理特征；

基于所述图像纹理特征的梯度变化情况，将所述待处理图像划分若干区域；

将所述若干区域中符合图像梯度条件的区域，确定为电路板区域，其余区域确定为非电路板区域；

按照所述电路板区域对所述待处理图像进行分割，得到所述电路板的待检测图像。