[发明专利]一种异常区域检测方法、自动光学检测设备以及存储介质

说明书

本申请公开了一种异常区域检测方法、自动光学检测设备以及存储介质。该的异常区域检测方法包括：获取在待检测图像中的第一起始点；基于第一起始点按照第一预设尺寸，生成第一重复单元区域；利用第一重复单元区域获取尺寸相同的第一相邻区域，获取第一重复单元区域与第一相邻区域的第一相似度；在第一相似度大于等于第二相似度阈值的情况下，将第一重复单元区域作为符合相似度条件的重复单元区域。通过上述实施方式，能够将重复度较高的待检测图像利用重复单元区域找到异常区域，简化算法复杂程度；同时能从重复度较高的待检测图像中准确找到异常区域，便于利用找到的异常区域进行后续的图像处理。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，特别是涉及一种异常区域检测方法、自动光学检测设备以及存储介质。

背景技术

印刷电路板(Printed Circuit Board, PCB)行业的自动光学检测(AutomatedOptical Inspection, AOI)设备具有非常重要的实际意义。AOI是指针对PCB生产线上的PCB，通过光学相机采集图像，使用图像处理、机器学习等方法，检测和定位出PCB上的缺陷。

PCB在生产过程中无法避免地存在大量的缺陷，而PCB上线路非常小且密集，完全进行人工检查缺陷非常费时费力，且容易出错。此外，如果不对缺陷进行检测，而直接将存在缺陷的PCB板子放入下一个流程中进行制造，后续的修补成本会越来越高，且更容易报废，造成大量的浪费成本。

然而，在检测过程中，首先需要将原始PCB设计图和相机采集到的图像进行对位操作，才能进行比较，进而进行缺陷检测。而针对LED灯板这种特征不易提取，重复度高的PCB，已有的对位算法性能较差，导致对位失败造成大量的假点缺陷报点，需要人工复检，因此优化对位算法，对于缺陷检测的精准度具有重要的实际意义。

发明内容

为了解决现有技术存在的上述问题，本申请提供一种异常区域检测方法、自动光学检测设备以及存储介质。

为解决上述问题，本申请提供了一种异常区域检测方法，异常区域检测方法包括：获取在待检测图像中的第一起始点；基于所述第一起始点按照第一预设尺寸，生成第一重复单元区域；利用所述第一重复单元区域获取尺寸相同的第一相邻区域，获取所述第一重复单元区域与所述第一相邻区域的第一相似度；在所述第一相似度大于等于第二相似度阈值的情况下，将所述第一重复单元区域作为符合相似度条件的重复单元区域。

为解决上述问题，本申请提供了一种自动光学检测设备，自动光学检测设备包括：处理器和存储器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器用于执行所述计算机程序以实现上述的方法。

为解决上述问题，本申请提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有程序指令，所述程序指令被处理器执行时实现上述的方法。

与现有技术相比，本申请的异常区域检测方法包括：获取在待检测图像中的第一起始点；基于第一起始点按照第一预设尺寸，生成第一重复单元区域；利用第一重复单元区域获取尺寸相同的第一相邻区域，获取第一重复单元区域与第一相邻区域的第一相似度；在第一相似度大于等于第二相似度阈值的情况下，将第一重复单元区域作为符合相似度条件的重复单元区域。通过上述实施方式，获取的重复单元区域对待检测图像进行匹配，并将匹配之后的重复单元与第一相似度进行比较，从中找到异常区域，该方式能够将重复度较高的待检测图像利用重复单元区域找到异常区域，简化算法复杂程度；同时能从重复度较高的待检测图像中准确找到异常区域，便于利用找到的异常区域进行后续的图像处理。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，而非限制本申请。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。