[发明专利]数据加速卡、芯片测试系统、方法及电子设备

权利要求书

1.一种数据加速卡，其特征在于，包括：主控制器、多个子控制器、和多个测试芯片；其中，所述主控制器与所述子控制器相连接，每个所述子控制器分别连接一个所述测试芯片；

所述主控制器用于按照预设顺序，依次循环读取每个所述测试芯片的状态信息，并根据所述状态信息控制所述子控制器与所述测试芯片进行数据传输操作；

所述测试芯片用于对接收到的所述子控制器发送的测试数据进行计算得到测试结果，并将所述测试结果返回至所述子控制器。

2.根据权利要求1所述的数据加速卡，其特征在于，还包括：读存储器和写存储器，其中，每个所述子控制器连接一个所述读存储器；

所述读存储器用于存储所述测试芯片的测试结果，所述写存储器用于存储上位机下发的测试数据。

3.根据权利要求2所述的数据加速卡，其特征在于，当所述主控制器确定所述测试芯片的状态信息满足第一预设条件时，控制所述子控制器从所述写存储器读取测试数据，并将所述测试数据发送与所述子控制器连接的测试芯片。

4.根据权利要求2所述的数据加速卡，其特征在于，当所述主控制器确定所述测试芯片的状态信息满足第二预设条件时，控制所述子控制器读取与所述子控制器连接的测试芯片的测试结果，并将所述测试结果保存在对应的读存储器中。

5.根据权利要求1所述的数据加速卡，其特征在于，还包括：PCIE接口，用于连接上位机。

6.根据权利要求1所述的数据加速卡，其特征在于，还包括：散热组件和供电单元。

7.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：权利要求1至6任一项所述的数据加速卡，以及与所述数据加速卡相连接的上位机；

所述上位机内部配置有PCIE驱动程序，用于向所述数据加速卡下发控制信号和测试数据，并读取每个测试芯片的测试结果。

8.根据权利要求7所述的芯片测试系统，其特征在于，所述上位机还用于获取每个所述测试芯片的状态信息以及所述数据加速卡的温度信息。

9.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法应用于权利要求1至6任一项所述的数据加速卡，所述方法包括：

按照预设顺序，依次循环读取每个测试芯片的状态信息；

根据所述状态信息控制子控制器和所述测试芯片进行数据传输操作。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，根据所述状态信息控制子控制器和所述测试芯片进行数据传输操作的步骤，包括：

当所述测试芯片的状态信息满足第一预设条件时，控制所述子控制器从写存储器读取测试数据，并将所述测试数据发送与所述子控制器连接的测试芯片；

测试芯片对所述测试数据进行计算得到测试结果，并将所述测试结果返回至所述子控制器。

11.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，根据所述状态信息控制子控制器和所述测试芯片进行数据传输操作的步骤，还包括：

当所述测试芯片的状态信息满足第二预设条件时，控制所述子控制器读取与所述子控制器连接的测试芯片的测试结果，并将所述测试结果保存在对应的读存储器中。

12.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

接收上位机下发的启动信号，并基于所述启动信号进行对所述数据加速卡进行初始化。

13.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器存储有能够被所述处理器执行的计算机可执行指令，所述处理器执行所述计算机可执行指令以实现权利要求9至12任一项所述的方法的步骤。

14.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器运行时执行上述权利要求9至12任一项所述的方法的步骤。