[发明专利]数据加速卡、芯片测试系统、方法及电子设备

说明书

本发明提供了一种数据加速卡、芯片测试系统、方法及电子设备，包括：主控制器、多个子控制器、和多个测试芯片；其中，主控制器与子控制器相连接，每个子控制器分别连接一个测试芯片；主控制器用于按照预设顺序，依次循环读取每个测试芯片的状态信息，并根据状态信息控制子控制器和测试芯片进行数据传输操作；测试芯片用于对接收到的子控制器发送的测试数据进行计算得到测试结果，并将测试结果返回至子控制器。本发明能够自动对多个测试芯片进行测试，操作简单。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其是涉及一种数据加速卡、芯片测试系统、方法及电子设备。

背景技术

随着芯片产业的发展，对于芯片质量的把控也越来越受到人们的关注。无论对于厂家还是消费者而言，如何确保芯片的质量已逐渐成为一个重要问题。因此，对于芯片的测试成为了必要环节。而现有的测试方法大多是对单一芯片进行测试，当有大量芯片需要测试时，就需要耗费大量的人力和时间，操作复杂。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种数据加速卡、芯片测试系统、方法及电子设备，能够自动对多个测试芯片进行测试，操作简单。

为了实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种数据加速卡，包括：主控制器、多个子控制器、和多个测试芯片；其中，主控制器与子控制器相连接，每个子控制器分别连接一个测试芯片；主控制器用于按照预设顺序，依次循环读取每个测试芯片的状态信息，并根据状态信息控制子控制器和测试芯片进行数据传输操作；测试芯片用于对接收到的子控制器发送的测试数据进行计算得到测试结果，并将测试结果返回至子控制器。

在一种实施方式中，数据加速卡还包括：读存储器和写存储器，其中，每个子控制器连接一个读存储器；读存储器用于存储测试芯片的测试结果，写存储器用于存储上位机下发的测试数据。

在一种实施方式中，当主控制器确定测试芯片的状态信息满足第一预设条件时，控制子控制器从写存储器读取测试数据，并将测试数据发送与子控制器连接的测试芯片。

在一种实施方式中，当主控制器确定测试芯片的状态信息满足第二预设条件时，控制子控制器读取与子控制器连接的测试芯片的测试结果，并将测试结果保存在对应的读存储器中。

在一种实施方式中，数据加速卡还包括：PCIE接口，用于连接上位机。

在一种实施方式中，数据加速卡还包括：散热组件和供电单元。

第二方面，本发明实施例提供了一种芯片测试系统，包括：上述第一方面提供的任一项的数据加速卡，以及与数据加速卡相连接的上位机；上位机内部配置有PCIE驱动程序，用于向数据加速卡下发控制信号和测试数据，并读取每个测试芯片的测试结果。

在一种实施方式中，上位机还用于获取每个测试芯片的状态信息以及数据加速卡的温度信息。

第三方面，本发明实施例提供了一种芯片测试方法，该方法应用于上述第一方面提供的任一项的数据加速卡，该方法包括：按照预设顺序，依次循环读取每个测试芯片的状态信息；根据状态信息控制子控制器和测试芯片进行数据传输操作。

在一种实施方式中，根据状态信息控制子控制器和测试芯片进行数据传输操作的步骤，包括：当子控制器的测试芯片满足第一预设条件时，控制子控制器从写存储器读取测试数据，并将测试数据发送与子控制器连接的测试芯片；测试芯片对测试数据进行计算得到测试结果，并将测试结果返回至子控制器。

在一种实施方式中，根据状态信息控制子控制器和测试芯片进行数据传输操作的步骤，还包括：当测试芯片的状态信息满足第二预设条件时，控制子控制器读取与子控制器连接的测试芯片的测试结果，并将测试结果保存在对应的读存储器中。

在一种实施方式中，该方法还包括：接收上位机下发的启动信号，并基于启动信号进行对数据加速卡进行初始化。