[发明专利]芯片动态功耗测试系统及方法

权利要求书

1.一种芯片动态功耗测试系统，其特征在于，所述系统包括：

测试设备，用于作为测试芯片的工作电源，以及控制所述测试芯片执行预设测试算法；

示波器，所述示波器的第一端口(1)通过电流探头与测试芯片的电源通道连接，第二端口(2)与所述测试芯片的I/O管脚连接，所述示波器用于采集所述测试芯片执行所述预设测试算法过程中的功耗信息；

所述电流探头，用于采集所述测试芯片执行预设测试算法过程中的电流信号。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述示波器的时基参数由所述测试芯片执行预设测试算法的需求运行时间确定。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述示波器的启动时刻与所述测试芯片执行预设测试算法的起始时刻重合。

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述示波器的采集截停时刻与所述测试芯片执行预设测试算法的截停时刻重合。

5.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述示波器根据由第二端口(2)获取的触发信号触发启动功耗信息采集，根据由第二端口(2)获取的截停信号停止功耗信息采集。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述触发信号为所述示波器的第二端口(2)所连接的测试芯片的I/O管脚的输出电平值初次取反信号；

所述截停信号为所述示波器的第二端口(2)所连接的测试芯片的I/O管脚的输出电平值二次取反信号。

7.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述示波器通过第一端口(1)连接的电流探头采集所述测试芯片执行预设测试算法过程中的电流信号，基于所述电流信号获得所述测试芯片执行预设测试算法过程中的功耗信息。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述测试芯片执行预设测试算法过程中的电流信号为由所述示波器采集的测试芯片的电流曲线。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述电流曲线为电流最大值曲线、电流平均值曲线、电流均方根值曲线中的任一种或多种。

10.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述功耗信息为：

从所述电流曲线中去除功耗扰动曲线的功耗曲线；其中，

所述功耗扰动曲线为因测试芯片的I/O管脚的输出电平切换造成的功耗扰动曲线。

11.一种芯片动态功耗测试方法，其特征在于，所述方法包括：

初始化测试芯片的I/O管脚，获取所述I/O管脚的初始输出电平值；

响应于预设测试算法启动指令，控制所述I/O管脚的输出电平值初次取反，控制测试芯片执行所述预设测试算法，生成输出电平值初次取反信号；

响应于所述输出电平值初次取反信号，启动示波器采集所述测试芯片执行所述预设测试算法过程中的功耗信息；

响应于预设测试算法完成指令，控制所述I/O管脚的输出电平值二次取反，控制示波器停止功耗信息采集，输出所采集的功耗信息。

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述预设测试算法包括在所述测试芯片的片上操作系统上编写的输出调节算法；

所述输出调节算法用于改变测试芯片I/O管脚的输出电平。

13.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，控制所述输出电平值初次取反之前，所述方法还包括：

设置示波器的时基参数，包括：

获取测试芯片运行预设测试算法的需求运行时间；

以测试芯片执行预设测试算法的运行时间在示波器采集时段中的占比不小于预设比例为条件，确定示波器的时基参数。