[发明专利]芯片动态功耗测试系统及方法

说明书

本发明实施例提供一种芯片动态功耗测试系统及方法，属于芯片评价技术领域。所述系统包括：测试设备，用于作为测试芯片的工作电源，以及控制所述测试芯片执行预设测试算法；示波器，所述示波器的第一端口通过电流探头与测试芯片的电源通道连接，第二端口与所述测试芯片的I/O管脚连接，所述示波器用于采集所述测试芯片执行所述预设测试算法过程中的功耗信息；所述电流探头，用于采集所述测试芯片执行预设测试算法过程中的电流信号。本发明方案搭建了一套简单、易用、易实现的、可自动化获取安全芯片算法动态功耗结果的测试环境。

技术领域

本发明涉及芯片评价技术领域，具体地，涉及一种芯片动态功耗测试系统及一种芯片动态功耗测试方法。

背景技术

芯片在如今的智能监测和控制领域应用十分广泛，芯片自身的性能直接影响了对应设备的工作性能，所以进行芯片使用前，对应的性能测试必不可少。芯片大多应用于嵌入式系统，对应的功耗要求很高，特别是安全芯片，其低功耗特性是非常关键的性能指标。安全芯片在智能电网与智能电表的应用中有至关重要的作用，安全、可靠、低功耗是其关键的性能指标。掌握芯片的动态功耗数值，对于提升安全芯片的应用，进而提升智能电网与智能电表的性能起到关键的作用。

在现有的安全芯片的算法动态功耗的测试中，通常使用专用的协议分析仪器获取功耗测试结果，需要在单次测试结束后，手动定位算法运行的区间，手动去观察功耗的测试点。这样导致无法获取算法运行区间的功耗实时曲线，判断算法运行期间的功耗走势，采集效率较低。

发明内容

本发明实施方式的目的是提供一种芯片动态功耗测试系统及方法，以至少解决现有芯片功耗测试方案无法获取算法运行区间的功耗实时曲线，判断算法运行期间的功耗走势，采集效率较低的问题。

为了实现上述目的，本发明第一方面提供一种芯片动态功耗测试系统，所述系统包括：测试设备，用于作为测试芯片的工作电源，以及控制所述测试芯片执行预设测试算法；示波器，所述示波器的第一端口通过电流探头与测试芯片的电源通道连接，第二端口与所述测试芯片的I/O管脚连接，所述示波器用于采集所述测试芯片执行所述预设测试算法过程中的功耗信息；所述电流探头，用于采集所述测试芯片执行预设测试算法过程中的电流信号。

可选的，所述示波器的时基参数由所述测试芯片执行预设测试算法的需求运行时间确定。

可选的，所述示波器的启动时刻与所述测试芯片执行预设测试算法的起始时刻重合。

可选的，所述示波器的采集截停时刻与所述测试芯片执行预设测试算法的截停时刻重合。

可选的，所述示波器根据由第二端口获取的触发信号触发启动功耗信息采集，根据由第二端口获取的截停信号停止功耗信息采集。

可选的，所述触发信号为所述示波器的第二端口所连接的测试芯片的I/O管脚的输出电平值初次取反信号；所述截停信号为所述示波器的第二端口所连接的测试芯片的I/O管脚的输出电平值二次取反信号。

可选的，所述示波器通过第一端口连接的电流探头采集所述测试芯片执行预设测试算法过程中的电流信号，基于所述电流信号获得所述测试芯片执行预设测试算法过程中的功耗信息。

可选的，所述测试芯片执行预设测试算法过程中的电流信号为由所述示波器采集的测试芯片的电流曲线。

可选的，所述电流曲线为电流最大值曲线、电流平均值曲线、电流均方根值曲线中的任一种或多种。

可选的，所述功耗信息为：从所述电流曲线中去除功耗扰动曲线的功耗曲线；其中，所述功耗扰动曲线为因测试芯片的I/O管脚的输出电平切换造成的功耗扰动曲线。